| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题提出的背景 | 第9-13页 |
| ·工业CT 的结构及工作原理 | 第9-11页 |
| ·探测系统对工业CT 性能指标的影响 | 第11-13页 |
| ·工业CT 探测系统的国内外研究现状及发展方向 | 第13-14页 |
| ·课题的研究意义 | 第14页 |
| ·课题主要任务及论文主要内容 | 第14-17页 |
| 2 工业 CT 探测系统分析 | 第17-25页 |
| ·工业CT 探测系统探测原理及结构分析 | 第17-19页 |
| ·闪烁体+光电二极管探测器性能分析 | 第19-22页 |
| ·闪烁体的选择 | 第19页 |
| ·光电二极管的工作原理及伏安特性 | 第19-21页 |
| ·闪烁体+光电二极管探测器输出信号分析 | 第21-22页 |
| ·探测器输出信号的处理方法 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 研究平台总体方案设计 | 第25-51页 |
| ·总体方案设计 | 第25页 |
| ·前置放大电路设计方案 | 第25-36页 |
| ·前置放大器的选择 | 第26-28页 |
| ·基于ACF2101 前置积分放大电路的设计 | 第28-30页 |
| ·积分电容的选择 | 第30-32页 |
| ·二级放大电路设计 | 第32-33页 |
| ·基于PSPICE 软件的放大电路仿真分析 | 第33-36页 |
| ·AD 转换电路设计方案 | 第36-44页 |
| ·AD 转换器架构分析 | 第36-38页 |
| ·工业CT 对AD 转换器性能的要求 | 第38-40页 |
| ·基于AD7674 芯片的AD 转换电路设计 | 第40-44页 |
| ·控制电路设计方案 | 第44-48页 |
| ·控制方案的选择 | 第44-46页 |
| ·FPGA 及开发平台简介 | 第46-48页 |
| ·FPGA 控制时序设计 | 第48页 |
| ·本章小结 | 第48-51页 |
| 4 硬件电路实现 | 第51-65页 |
| ·放大电路的硬件实现 | 第51-53页 |
| ·积分电容为100pF 的前置放大电路实现 | 第51页 |
| ·外接积分电容的前置放大电路实现 | 第51-52页 |
| ·二级放大电路硬件实现 | 第52页 |
| ·供电电路设计 | 第52-53页 |
| ·AD 转换电路的硬件实现 | 第53-56页 |
| ·AD7674 前端差分电路 | 第53-54页 |
| ·AD7674 硬件电路 | 第54页 |
| ·转换电路电源设计 | 第54-56页 |
| ·控制电路硬件设计 | 第56-60页 |
| ·主芯片EPlC3T144C8 | 第56-57页 |
| ·FPGA 外围电路设计 | 第57-60页 |
| ·PCB 抗干扰性设计 | 第60-63页 |
| ·前置放大电路抗干扰性设计 | 第60-61页 |
| ·AD 转换电路抗干扰性设计 | 第61页 |
| ·模数混合设计中的抗干扰措施 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 5 研究结果分析 | 第65-75页 |
| ·FPGA 控制测试 | 第65-66页 |
| ·空气积分电容放大电路性能测试 | 第66-68页 |
| ·5nA 弱电流产生电路设计 | 第66-67页 |
| ·输出波形分析 | 第67-68页 |
| ·0.1pF 积分电容放大电路性能测试及AD 转换测试 | 第68-73页 |
| ·输出信号测试 | 第69-71页 |
| ·输出噪声分析 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 6 总结与展望 | 第75-77页 |
| ·总结 | 第75-76页 |
| ·问题与展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 附录 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第81页 |