摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 课题研究的背景和意义 | 第9页 |
1.2 课题研究与应用现状 | 第9-10页 |
1.3 课题研究目标及测试工程的挑战 | 第10-12页 |
1.3.1 课题研究目标 | 第10-12页 |
1.3.2 测试工程的挑战 | 第12页 |
1.4 测试技术的概述 | 第12-13页 |
1.5 本文主要工作及章节安排 | 第13-15页 |
1.5.1 本文主要工作 | 第13页 |
1.5.2 章节安排 | 第13-15页 |
第二章 DCDC功能测试系统的总体设计 | 第15-24页 |
2.1 功能测试系统的概述 | 第15-16页 |
2.1.1 功能测试系统概念 | 第15页 |
2.1.2 功能测试系统结构及功能 | 第15-16页 |
2.2 系统硬件总体设计 | 第16-21页 |
2.2.1 测试夹具平台设计 | 第17-18页 |
2.2.2 功能测试硬件平台的设计 | 第18-21页 |
2.3 系统应用软件设计 | 第21-23页 |
2.4 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 DCDC功能测试系统硬件设计 | 第24-45页 |
3.1 产品测试方式的确定 | 第24页 |
3.2 DCDC功能测试夹具平台的实现 | 第24-34页 |
3.2.1 DCDC功能测试夹具的机械结构 | 第25-26页 |
3.2.2 DCDC功能测试夹具的控制逻辑 | 第26-27页 |
3.2.3 功能测试夹具的控制按钮 | 第27-28页 |
3.2.4 功能测试夹具触摸屏 | 第28-32页 |
3.2.5 功能测试夹具的安全 | 第32页 |
3.2.6 功能测试夹具操作流程 | 第32-33页 |
3.2.7 DCDC功能测试夹具的技术要求 | 第33-34页 |
3.3 DCDC功能测试半自动化硬件平台的实现 | 第34-43页 |
3.3.1 电源分配单元PDU | 第34-35页 |
3.3.2 电源 | 第35-37页 |
3.3.3 UNI-COM II+ | 第37-38页 |
3.3.4 电子负载E-Load | 第38-39页 |
3.3.5 数字转换器Digitizer | 第39页 |
3.3.6 开关负载单元SLU | 第39-43页 |
3.4 功能测试系统的硬件接线 | 第43页 |
3.5 集成后的功能测试系统 | 第43-44页 |
3.6 本章小结 | 第44-45页 |
第四章 基于Keysight TestExec SL的软件设计 | 第45-62页 |
4.1 Keysight TestExecSL | 第46-50页 |
4.1.1 Keysight TestExecSL选择 | 第46-47页 |
4.1.2 Keysight TestExec SL开发界面 | 第47-48页 |
4.1.3 Keysight TestExec SL常用功能 | 第48-50页 |
4.2 ATI和MES系统介绍 | 第50-52页 |
4.2.1 ATI介绍 | 第50-52页 |
4.2.2 MES系统介绍 | 第52页 |
4.3 Keysight TestExec SL的软件编程 | 第52-61页 |
4.3.1 系统初始化 | 第54页 |
4.3.2 Pin短路测试 | 第54-55页 |
4.3.3 电流测试 | 第55-56页 |
4.3.4 CAN Level测试 | 第56-57页 |
4.3.5 产品校准CALIBRATION | 第57-58页 |
4.3.6 校准后正常模式的测试 | 第58-59页 |
4.3.7 4b波形的测试 | 第59页 |
4.3.8 桥接模式下稳定性测试 | 第59-60页 |
4.3.9 过流测试 | 第60-61页 |
4.4 本章小结 | 第61-62页 |
第五章 DCDC特殊特性的调试 | 第62-69页 |
5.1 4b波形测试原理 | 第62-63页 |
5.2 4b波形调试 | 第63-64页 |
5.3 4b波形测试Fail的原因分析 | 第64-65页 |
5.4 4b波形测试的改善 | 第65-67页 |
5.5 4b波形测试结果 | 第67-68页 |
5.6 本章小结 | 第68-69页 |
第六章 设备性能验证分析 | 第69-83页 |
6.1 基本功能验证 | 第69-70页 |
6.2 测量系统分析 | 第70-77页 |
6.2.1 MSA概述 | 第70-71页 |
6.2.2 测量名词术语 | 第71-72页 |
6.2.3 测量系统特性 | 第72-76页 |
6.2.4 DCDC功能测试系统MSA | 第76-77页 |
6.3 过程性能分析 | 第77-79页 |
6.4 设备时效性分析 | 第79-81页 |
6.5 验证技术指标 | 第81-82页 |
6.6 本章小结 | 第82-83页 |
第七章 总结和展望 | 第83-85页 |
7.1 总结 | 第83-84页 |
7.2 展望 | 第84-85页 |
参考文献 | 第85-87页 |
致谢 | 第87-88页 |