中文摘要 | 第3-5页 |
英文摘要 | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-20页 |
1.1 论文的背景及研究意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-18页 |
1.2.1 局部放电的一般检测技术 | 第12-16页 |
1.2.2 紫外成像检测技术研究现状 | 第16-18页 |
1.3 研究内容 | 第18-20页 |
2 输变电设备外绝缘放电紫外检测的原理 | 第20-36页 |
2.1 紫外成像工作原理 | 第20-21页 |
2.2 输变电设备外绝缘气体放电理论分析 | 第21-24页 |
2.3 外绝缘气体放电的光辐射现象 | 第24-27页 |
2.4 外绝缘气体放电的紫外辐射光谱分析 | 第27-30页 |
2.5 视在放电量与紫外检测结果的关系研究 | 第30-34页 |
2.5.1 试验装置与试验方法 | 第30-32页 |
2.5.2 光子数与视在放电量的关系 | 第32-34页 |
2.6 本章小结 | 第34-36页 |
3 输变电设备外绝缘放电现场检测分析 | 第36-58页 |
3.1 试验装置与试验方法 | 第36-39页 |
3.1.1 测量装置与试品 | 第37-38页 |
3.1.2 试验方法 | 第38-39页 |
3.2 风速与风向的修正研究 | 第39-42页 |
3.3 观测角度的修正研究 | 第42-44页 |
3.4 增益的修正研究 | 第44-50页 |
3.5 检测距离的修正研究 | 第50-55页 |
3.6 不同仪器间的校正 | 第55-57页 |
3.7 本章小结 | 第57-58页 |
4 输变电设备外绝缘放电实验室检测分析 | 第58-120页 |
4.1 试验方法 | 第58-60页 |
4.2 不同环境下绝缘子放电特性 | 第60-77页 |
4.2.1 绝缘子不同污秽程度下放电特性 | 第60-65页 |
4.2.2 淋雨环境中绝缘子放电紫外特性 | 第65-73页 |
4.2.3 污秽和淋雨绝缘子放电的对比分析 | 第73-74页 |
4.2.4 覆冰绝缘子放电特性 | 第74-77页 |
4.3 基于紫外成像的零值绝缘子检测 | 第77-86页 |
4.3.1 干燥清洁绝缘子串中零值绝缘子紫外检测 | 第78-82页 |
4.3.2 污秽绝缘子串中零值绝缘子紫外检测 | 第82-86页 |
4.4 基于紫外成像和模糊理论的绝缘子覆冰程度评估模型 | 第86-91页 |
4.5 不同缺陷类型导线的放电特性及区分 | 第91-103页 |
4.5.1 交流电压下导线电晕起始物理过程 | 第92-93页 |
4.5.2 导线起晕电压计算模型及导线表面电场计算模型 | 第93-94页 |
4.5.3 不同缺陷下导线表面电场仿真计算模型 | 第94-96页 |
4.5.4 不同导线缺陷的放电检测 | 第96-101页 |
4.5.5 不同缺陷情况导线电晕放电特性对比分析 | 第101-103页 |
4.6 不同缺陷类型导线接头的放电特性分析及区分 | 第103-111页 |
4.6.1 无缺陷导线接头放电检测 | 第103-105页 |
4.6.2 导线接头自身缺陷放电检测 | 第105-108页 |
4.6.3 导线接头因外界因素导致缺陷放电检测 | 第108-110页 |
4.6.4 不同缺陷情况导线接头电晕放电特性对比区分 | 第110-111页 |
4.7 针-板模型交直流电晕放电特征对比分析 | 第111-117页 |
4.7.1 负极性电压下针-板模型紫外检测特征 | 第111-113页 |
4.7.2 正极性电压下针-板模型紫外检测特征 | 第113-116页 |
4.7.3 交流电压下针-板模型紫外检测特征 | 第116-117页 |
4.8 本章小结 | 第117-120页 |
5 外绝缘放电的紫外图谱特性分析 | 第120-130页 |
5.1 光斑面积的定义和分析 | 第120-125页 |
5.1.1 光斑面积的提取 | 第120-124页 |
5.1.2 光斑面积与视在放电量之间的关系 | 第124-125页 |
5.2 不同紫外检测特征参量的比较分析 | 第125-127页 |
5.2.1 检测距离对光斑面积的影响 | 第125-126页 |
5.2.2 增益对光斑面积的影响 | 第126-127页 |
5.3 本章小结 | 第127-130页 |
6 外绝缘放电紫外检测方法 | 第130-146页 |
6.1 紫外检测特征量的选取及检测方法 | 第130-133页 |
6.1.1 紫外检测特征量的选取 | 第130页 |
6.1.2 紫外检测方法 | 第130-132页 |
6.1.3 输变电设备放电的主要缺陷 | 第132-133页 |
6.2 典型放电缺陷判断方法 | 第133-134页 |
6.3 典型导电体缺陷及放电类型的定量评判方法 | 第134-137页 |
6.3.1 导线缺陷及放电类型的定量评判方法 | 第134-135页 |
6.3.2 均压环缺陷及放电类型的定量评判方法 | 第135-136页 |
6.3.3 金属尖端缺陷及放电类型的定量评判方法 | 第136-137页 |
6.4 典型绝缘设备缺陷及放电类型的定量评判方法 | 第137-140页 |
6.4.1 缺陷绝缘设备 | 第138页 |
6.4.2 污秽条件下的绝缘子 | 第138-139页 |
6.4.3 淋雨条件下的绝缘子 | 第139页 |
6.4.4 覆冰条件下的绝缘子 | 第139-140页 |
6.5 基于紫外图谱的绝缘子不同放电类型识别方法 | 第140-145页 |
6.6 本章小结 | 第145-146页 |
7 结论 | 第146-148页 |
7.1 本文结论 | 第146-147页 |
7.2 主要创新点 | 第147页 |
7.3 后续研究工作的展望 | 第147-148页 |
致谢 | 第148-150页 |
参考文献 | 第150-158页 |
附录 | 第158页 |
A. 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第158页 |
B. 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第158页 |