摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第11-24页 |
1.1 X射线探测器 | 第11-13页 |
1.1.1 半导体X射线探测器 | 第11-12页 |
1.1.2 闪烁体X射线探测器 | 第12-13页 |
1.2 闪烁体材料 | 第13-15页 |
1.2.1 CsI系闪烁体材料 | 第13页 |
1.2.2 CsI:Tl闪烁体 | 第13-15页 |
1.3 CsI潮解国内外研究状况 | 第15-22页 |
1.4 本文选题依据及内容安排 | 第22-24页 |
第二章 潮解对CsI:Tl结构及性能影响的实验研究 | 第24-35页 |
2.1 引言 | 第24页 |
2.2 CsI:Tl薄膜潮解的验证 | 第24-26页 |
2.2.1 掺铊碘化铯薄膜样品准备 | 第24页 |
2.2.2 CsI:Tl薄膜潮解的验证结果 | 第24-26页 |
2.3 潮解对CsI:Tl薄膜结构的影响 | 第26-31页 |
2.3.1 潮解对CsI:Tl薄膜表面形貌的影响 | 第26-29页 |
2.3.2 潮解对CsI:Tl薄膜生长取向的影响 | 第29-31页 |
2.4 潮解对CsI:Tl薄膜荧光光谱的影响 | 第31-34页 |
2.5 本章小节 | 第34-35页 |
第三章 CsI:Tl抗潮解方案的设计与评价 | 第35-51页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 抗潮解方案的选择 | 第35-39页 |
3.2.1 共掺杂法 | 第36页 |
3.2.2 镀制高聚物保护膜 | 第36页 |
3.2.3 镀制金属保护膜 | 第36-38页 |
3.2.4 镀制非金属保护膜 | 第38-39页 |
3.3 CsI:Tl抗潮解薄膜制备 | 第39-43页 |
3.3.1 抗潮解铝膜制备 | 第39-40页 |
3.3.2 抗潮解非金属膜制备 | 第40-43页 |
3.4 CsI:Tl抗潮解薄膜抗潮解性能分析 | 第43-50页 |
3.4.1 抗潮解铝膜的抗潮解性能 | 第43-46页 |
3.4.2 抗潮解二氧化硅膜的抗潮解性能 | 第46-47页 |
3.4.3 抗潮解氮化硅膜的抗潮解性能 | 第47-50页 |
3.5 本章小结 | 第50-51页 |
第四章 X射线探测器光转换组件设计 | 第51-66页 |
4.1 引言 | 第51-52页 |
4.2 光学设计的一般过程 | 第52页 |
4.3 光学系统初始结构的选定 | 第52-55页 |
4.3.1 代数法 | 第53页 |
4.3.2 缩放法 | 第53-55页 |
4.4 光转换组件的基础设计 | 第55-59页 |
4.4.1 光转换组件设计基本要求 | 第55-56页 |
4.4.2 光转换组件参数的计算 | 第56-57页 |
4.4.3 基于ZEMAX的光转换组件搭建 | 第57-59页 |
4.5 基础光转换组件设计的评价 | 第59-65页 |
4.6 本章小结 | 第65-66页 |
第五章 X射线探测器光转换组件的优化与评价 | 第66-81页 |
5.1 基础光转换组件的优化与评价 | 第66-73页 |
5.2 三透镜光转换组件的设计与评价 | 第73-80页 |
5.2.1 三透镜光转换组件的优化设计 | 第74-75页 |
5.2.2 三透镜光转换组件的评价 | 第75-80页 |
5.3 本章小结 | 第80-81页 |
第六章 总结 | 第81-83页 |
6.1 本文工作总结 | 第81-82页 |
6.2 展望 | 第82-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-87页 |
攻读硕士学位期间研究成果 | 第87-88页 |