空心叶片内部微量残芯的检测方法及工艺
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| ·研究目的和意义 | 第8-10页 |
| ·X射线照相检测的研究现状 | 第10-12页 |
| ·中子射线照相检测的研究现状 | 第12-18页 |
| ·本课题的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 实验方案和方法 | 第20-23页 |
| ·实验方案 | 第20-21页 |
| ·实验方法 | 第21页 |
| ·图像的数据提取与处理工具 | 第21-23页 |
| 第3章 X射线照相检测的研究 | 第23-43页 |
| ·X射线照相检测原理 | 第23-24页 |
| ·X射线检测示踪剂 | 第24-25页 |
| ·示踪剂的选择 | 第24-25页 |
| ·示踪剂浓度范围的确定 | 第25页 |
| ·X射线检测试样的制备 | 第25-29页 |
| ·钢板试样的制备 | 第25-26页 |
| ·DD6 高温合金试样的制备 | 第26-27页 |
| ·叶片试样的制备 | 第27-29页 |
| ·钢板试样的X射线检测结果及分析 | 第29-30页 |
| ·DD6 高温合金试样的X射线检测结果及分析 | 第30-38页 |
| ·图像灰度值的提取方法 | 第33页 |
| ·X射线照相检测结果的数据分析 | 第33-36页 |
| ·残芯可见度随示踪剂浓度的变化规律 | 第36-37页 |
| ·残芯可见度随型芯厚度的变化规律 | 第37页 |
| ·残芯可见度随叶片材料厚度的变化规律 | 第37-38页 |
| ·叶片试样的X射线检测结果及分析 | 第38-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 X射线图像的图像增强处理 | 第43-57页 |
| ·前言 | 第43-44页 |
| ·Photoshop图像处理 | 第44-47页 |
| ·灰度变换法 | 第44-45页 |
| ·直方图修整法 | 第45-47页 |
| ·MATLAB图像处理 | 第47-52页 |
| ·线性点运算处理 | 第47-48页 |
| ·imadjust函数处理 | 第48-50页 |
| ·直方图均衡化处理 | 第50-51页 |
| ·imshow函数处理 | 第51-52页 |
| ·图像增强处理方法的对比分析 | 第52-53页 |
| ·imadjust函数处理X射线图像 | 第53-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 中子照相检测的研究 | 第57-72页 |
| ·中子照相检测原理及装置 | 第57-60页 |
| ·中子射线照相的检测原理 | 第57-58页 |
| ·中子照相装置 | 第58-60页 |
| ·中子射线照相检测示踪剂 | 第60-61页 |
| ·中子射线检测示踪剂的选择 | 第60-61页 |
| ·中子射线检测示踪剂浓度范围的确定 | 第61页 |
| ·中子照相检测试样的制备 | 第61-62页 |
| ·中子照相检测结果及分析 | 第62-68页 |
| ·热中子照片的图像处理 | 第62页 |
| ·热中子照相检测结果 | 第62-65页 |
| ·热中子照相检测结果的数据分析 | 第65-67页 |
| ·残芯可见度随示踪剂浓度和型芯厚度的变化规律 | 第67-68页 |
| ·残芯可见度随叶片材料厚度的变化规律 | 第68页 |
| ·中子照相检测结果与X射线照相检测结果的对比分析 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
