| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-24页 |
| 第一章 引言 | 第24-36页 |
| ·粒子物理学 | 第24-25页 |
| ·标准模型 | 第25-27页 |
| ·夸克模型 | 第27-29页 |
| ·粲偶素与ψ(3770)共振态 | 第29-34页 |
| ·粲偶素 | 第29-31页 |
| ·粲偶素衰变 | 第31-32页 |
| ·ρπ疑难 | 第32-33页 |
| ·ψ(3770)共振态 | 第33-34页 |
| ·实验方法 | 第34-35页 |
| ·论文选题与结构 | 第35-36页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第36-54页 |
| ·BEPC Ⅱ简介 | 第36-37页 |
| ·北京谱仪-Ⅲ(BES Ⅲ) | 第37-48页 |
| ·束流管 | 第38-39页 |
| ·主漂移室(MDC) | 第39-41页 |
| ·飞行时间计数器(TOF) | 第41-42页 |
| ·电磁量能器(EMC) | 第42-43页 |
| ·μ鉴别器(MUC) | 第43-44页 |
| ·超导磁铁 | 第44-45页 |
| ·电子学系统 | 第45页 |
| ·触发判选系统 | 第45-47页 |
| ·在线数据获取系统(DAQ) | 第47-48页 |
| ·北京谱仪-Ⅲ离线软件系统 | 第48-52页 |
| ·离线软件框架(BOSS) | 第48-49页 |
| ·探测器模拟系统(BOOST) | 第49-50页 |
| ·离线重建系统 | 第50-51页 |
| ·探测器刻度 | 第51页 |
| ·其他物理工具软件 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第三章 ψ(3770)→含Φ轻强子末态寻找 | 第54-108页 |
| ·背景介绍 | 第54页 |
| ·数据样本 | 第54-55页 |
| ·研究方法讨论 | 第55-57页 |
| ·事例选择 | 第57-73页 |
| ·末态粒子的选择和鉴别 | 第57-59页 |
| ·e~+e~-→Φπ~+π~-过程事例选择 | 第59-62页 |
| ·e~+e~-→Φπ~0π~0过程事例选择 | 第62-66页 |
| ·e~+e~-→ΦK~+K~-过程事例选择 | 第66-68页 |
| ·e~+e~-→ΦK_S~0K_S~0过程的事例选择 | 第68-73页 |
| ·本底估计 | 第73-78页 |
| ·ψ(3770)数据本底估计 | 第73-76页 |
| ·连续区数据本底估计 | 第76-78页 |
| ·探测效率的计算 | 第78-94页 |
| ·系统误差的计算 | 第94-102页 |
| ·带电径迹寻迹与粒子识别的不确定性 | 第94页 |
| ·K_S~0和π~0重建的不确定性 | 第94-95页 |
| ·4-C运动学拟合的不确定性 | 第95-96页 |
| ·归一化系数f_(co)计算的不确定性 | 第96-98页 |
| ·K~+K~-不变质量谱拟合的不确定性 | 第98-99页 |
| ·本底减除的不确定性 | 第99-100页 |
| ·探测效率计算的不确定性 | 第100页 |
| ·ψ(3770)总数的不确定性 | 第100页 |
| ·中间共振态PDG分支比的不确定性 | 第100-101页 |
| ·总的系统误差 | 第101-102页 |
| ·结果计算 | 第102-106页 |
| ·归一化系数 | 第102页 |
| ·信号事例数 | 第102-103页 |
| ·衰变分支比 | 第103-106页 |
| ·总结与讨论 | 第106-108页 |
| 第四章 ψ(3686)→含Φ轻强子末态衰变分支比测量 | 第108-134页 |
| ·介绍 | 第108-109页 |
| ·数据样本 | 第109页 |
| ·数据分析 | 第109-111页 |
| ·事例挑选 | 第109-110页 |
| ·拟合结果 | 第110-111页 |
| ·本底估计 | 第111-118页 |
| ·Φπ~+π~-末态本底估计 | 第112-113页 |
| ·Φπ~0π~0末态本底估计 | 第113-114页 |
| ·ΦK~+K~-末态本底估计 | 第114-116页 |
| ·ΦK_S~0K_S~0末态本底估计 | 第116-118页 |
| ·探测效率 | 第118-126页 |
| ·分支比计算 | 第126-127页 |
| ·系统误差 | 第127-131页 |
| ·带电粒子寻迹与识别 | 第127页 |
| ·K_S~0,π~0重建 | 第127页 |
| ·4-C运动学拟合 | 第127-128页 |
| ·不变质量谱拟合 | 第128-130页 |
| ·MC样本加权 | 第130页 |
| ·MC样本统计量 | 第130页 |
| ·ψ(3686)总数不确定性 | 第130页 |
| ·中间过程分支比 | 第130-131页 |
| ·总的系统误差 | 第131页 |
| ·结果与讨论 | 第131-134页 |
| 第五章 总结与展望 | 第134-136页 |
| 附录A 事例加权对探测效率影响 | 第136-140页 |
| A.1 MC加权前探测效率计算 | 第136-137页 |
| A.2 MC加权后探测效率计算 | 第137-140页 |
| 附录B 信号区与边带区归一化计算 | 第140-142页 |
| 参考文献 | 第142-148页 |
| 致谢 | 第148-150页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第150页 |