| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·论文研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第11-17页 |
| ·可靠性增长研究现状分析 | 第11-14页 |
| ·可靠性环境试验及其发展 | 第14-16页 |
| ·真空膜盒性能测试方法现状 | 第16-17页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章 自动开伞器控制原理及其可靠性环境试验方法研究 | 第18-29页 |
| ·自动开伞器结构及工作原理 | 第18-21页 |
| ·自动开伞器结构 | 第19页 |
| ·自动开伞器工作原理 | 第19-21页 |
| ·自动开伞器失效分析 | 第21-24页 |
| ·自动开伞器故障解析 | 第21-24页 |
| ·自动开伞器失效判据制定 | 第24页 |
| ·高控机构可靠性环境试验方法研究 | 第24-28页 |
| ·试验参考依据 | 第24-25页 |
| ·温度贮存试验 | 第25-26页 |
| ·温度变化试验 | 第26-27页 |
| ·高低温冲击试验 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 自动开伞器高控机构真空膜盒可靠性环境试验测试装置研究 | 第29-48页 |
| ·测试装置总体方案设计 | 第29页 |
| ·测试箱总体设计 | 第29-31页 |
| ·位移测试模块设计 | 第31-39页 |
| ·传感器设计 | 第31-34页 |
| ·传感器信号调理电路设计 | 第34-37页 |
| ·位移传感器的标定 | 第37-39页 |
| ·压力测控模块设计 | 第39-42页 |
| ·传感器选择 | 第39-41页 |
| ·传感器测试电路 | 第41-42页 |
| ·单片机控制系统设计 | 第42-47页 |
| ·电源模块 | 第47页 |
| ·膜盒测试装置硬件实物图 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 高控机构真空膜盒可靠性环境试验研究 | 第48-58页 |
| ·试验设备 | 第48-50页 |
| ·环境试验 | 第50-51页 |
| ·试验目的 | 第50页 |
| ·试验参数设置 | 第50-51页 |
| ·试验过程 | 第51-52页 |
| ·高温贮存试验 | 第51页 |
| ·低温贮存试验 | 第51页 |
| ·温度变化试验 | 第51-52页 |
| ·高低温冲击试验 | 第52页 |
| ·试验数据及处理 | 第52-57页 |
| ·试验数据 | 第52-53页 |
| ·试验数据处理与评价 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |