| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| ·光谱仪器简介 | 第13-18页 |
| ·经典色散型光谱仪 | 第14-17页 |
| ·调制变换型光谱仪 | 第17-18页 |
| ·微型光谱仪发展现状 | 第18-19页 |
| ·本文的立项依据以及具体研究内容 | 第19-21页 |
| ·论文的总体结构 | 第21-23页 |
| 第二章 紫外、可见、近红外微型光谱仪设计及整机实现 | 第23-50页 |
| ·紫外、可见、近红外微型光谱仪设计标准 | 第23-25页 |
| ·电路系统设计 | 第25-29页 |
| ·探测器选型 | 第25-27页 |
| ·硬件电路设计 | 第27-29页 |
| ·光机系统设计 | 第29-39页 |
| ·光学结构设计 | 第29-31页 |
| ·光学系统公差分析 | 第31-34页 |
| ·机械结构设计 | 第34-39页 |
| ·软件系统设计 | 第39-43页 |
| ·软件构架 | 第40-41页 |
| ·软件功能模块及界面设计 | 第41-43页 |
| ·光谱仪配置及性能估算 | 第43-44页 |
| ·光谱仪整机装调及测试 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第三章 微型光谱仪光谱预处理技术研究 | 第50-85页 |
| ·消除高级次衍射光谱研究 | 第50-66页 |
| ·衍射光谱级次分布的理论模型 | 第51-52页 |
| ·多膜系阶跃型滤光片研究 | 第52-61页 |
| ·数字式消除高级次光谱的研究 | 第61-66页 |
| ·消除高级次衍射光谱方法小结 | 第66页 |
| ·消除干涉条纹研究 | 第66-72页 |
| ·干涉条纹原理分析 | 第67-69页 |
| ·折射率匹配液法消除条纹 | 第69-70页 |
| ·增透膜法消除条纹 | 第70-72页 |
| ·杂散光校正研究 | 第72-78页 |
| ·杂散光校正概述 | 第72-74页 |
| ·杂散光模拟分析 | 第74-76页 |
| ·杂散光定量测量 | 第76-78页 |
| ·非线性校正研究 | 第78-83页 |
| ·增益非线性校正 | 第78-80页 |
| ·光强非线性校正 | 第80-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第四章 微型光谱仪定标技术研究 | 第85-108页 |
| ·光谱仪波长定标技术 | 第85-102页 |
| ·光谱仪波长定标技术概述 | 第85-86页 |
| ·基于多项式拟合的波长定标方法 | 第86-88页 |
| ·基于光谱仪系统参数的波长定标方法 | 第88-100页 |
| ·光谱自动寻峰技术 | 第100-102页 |
| ·绝对辐射定标技术 | 第102-106页 |
| ·辐射理论 | 第102-103页 |
| ·绝对辐射定标 | 第103-104页 |
| ·软件实现 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-108页 |
| 第五章 新型微型光谱仪系统——双光束微型光谱仪 | 第108-134页 |
| ·双光束光谱仪概述 | 第108-111页 |
| ·单光束光谱检测系统研究 | 第111-118页 |
| ·系统结构及模拟分析 | 第111-114页 |
| ·检测系统公差分析 | 第114-116页 |
| ·实际系统搭建及检测结果 | 第116-118页 |
| ·双光束光谱仪研究 | 第118-133页 |
| ·双光束光谱仪系统设计 | 第118-125页 |
| ·双光束光谱仪模拟分析 | 第125-128页 |
| ·整机实现 | 第128-133页 |
| ·本章小结 | 第133-134页 |
| 第六章 总结与展望 | 第134-137页 |
| 参考文献 | 第137-142页 |
| 博士期间发表的论文 | 第142页 |