环流器二号A等离子体破裂期间逃逸电子模拟研究

摘要	第1-5页
Abstract	第5-9页
1 绪论	第9-20页
·受控核聚变简介	第9-12页
·等离子体破裂	第12-13页
·逃逸电子概述	第13-14页
·逃逸电子产生机制	第14-20页
·库伦碰撞	第14-15页
·初级产生机制	第15-18页
·次级产生机制	第18-19页
·hot-tail及其他产生机制	第19-20页
2 HL-2A装置介绍及逃逸电子实验研究	第20-26页
·HL-2A整体装置介绍	第20-22页
·HL-2A等离子体环向电流和环向电压的测量系统	第22-24页
·等离了体破裂期间环向电压特征及其物理机制	第23页
·目前探测等离子体破裂期间环向电压的手段以及缺陷	第23-24页
·HL-2A等离子体破裂期间逃逸电子实验现象	第24-26页
3 物理模型	第26-34页
·方程的处理	第26-28页
·数值差分以及边界条件	第28-34页
4 HL-2A等离子体破裂期间逃逸电子演化模拟	第34-44页
·参数的选取	第34-35页
·结果分析	第35-42页
·本章小结	第42-44页
5 一些参数对模拟结果的影响	第44-51页
·热猝灭后温度的影响	第44-48页
·热猝灭时间的影响	第48-51页
结论	第51-52页
参考文献	第52-55页
附录A 物理模型的无量纲化	第55-57页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况	第57-58页
致谢	第58-59页