摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
图清单 | 第11-14页 |
表清单 | 第14-17页 |
注释表 | 第17-18页 |
第一章 绪论 | 第18-23页 |
·课题研究的背景和意义 | 第18-19页 |
·应用背景 | 第18-19页 |
·理论背景 | 第19页 |
·模拟电路故障诊断技术研究现状 | 第19-20页 |
·SVDD 理论及应用技术研究现状 | 第20-21页 |
·论文研究内容与组织结构 | 第21-23页 |
第二章 基于支持向量预选取SVDD 的模拟电路故障分类方法研究 | 第23-40页 |
·引言 | 第23-26页 |
·SVDD 理论简介 | 第23-24页 |
·基于SVDD 的模拟电路故障诊断 | 第24-25页 |
·SVDD 支持向量预选取方法概述 | 第25-26页 |
·基于离散度的SVDD 支持向量预选取 | 第26-28页 |
·离散度的概念 | 第26-27页 |
·离散度和支持向量的关系 | 第27-28页 |
·基于离散度的SVDD 支持向量预选取方法 | 第28页 |
·基于离散度支持向量预选取SVDD 的模拟电路故障分类 | 第28-29页 |
·基于UCI 数据集的性能评估实验 | 第29-31页 |
·Iris 数据集 | 第29-30页 |
·Spambase 数据集 | 第30-31页 |
·实验结果分析 | 第31页 |
·故障诊断实例 | 第31-39页 |
·有源滤波电路 | 第31-39页 |
·仿真实验结果分析 | 第39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第三章 基于二次映射SVDD 的模拟电路故障分类方法研究 | 第40-62页 |
·引言 | 第40-41页 |
·二次映射SVDD | 第41-44页 |
·二次映射的概念 | 第41-42页 |
·二次映射SVDD 的理论和性质 | 第42-44页 |
·基于二次映射SVDD 的模拟电路故障分类方法 | 第44-45页 |
·故障诊断实例 | 第45-61页 |
·半波整流电路 | 第45-52页 |
·文氏桥振荡电路 | 第52-60页 |
·仿真实验结果分析 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第四章 基于全样本SVDD 的模拟电路故障分类方法研究 | 第62-78页 |
·引言 | 第62-63页 |
·全样本 SVDD | 第63-65页 |
·核密度估计理论 | 第63页 |
·分类器组合方法分析 | 第63-64页 |
·全样本SVDD | 第64-65页 |
·基于全样本SVDD 的模拟电路故障分类方法 | 第65-66页 |
·故障诊断实例 | 第66-77页 |
·文氏桥振荡电路 | 第66-71页 |
·有源滤波电路 | 第71-76页 |
·仿真实验结果分析 | 第76-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
第五章 基于参数辨识的模拟电路故障诊断方法研究 | 第78-102页 |
·引言 | 第78-80页 |
·概述 | 第78-79页 |
·遗传算法及在参数辨识中的应用 | 第79-80页 |
·基于系统参数辨识的模拟电路模块级故障诊断方法 | 第80-94页 |
·基本原理 | 第80-81页 |
·故障诊断实例 | 第81-93页 |
·仿真实验结果分析 | 第93-94页 |
·基于参数辨识的模拟电路故障验证诊断方法 | 第94-101页 |
·基本原理 | 第94-96页 |
·故障诊断实例 | 第96-100页 |
·仿真实验结果分析 | 第100-101页 |
·本章小结 | 第101-102页 |
第六章 模拟电路故障诊断与测试实验研究 | 第102-118页 |
·模拟电路测试诊断实验系统设计 | 第102-104页 |
·实验平台介绍 | 第102-103页 |
·实验方案设计 | 第103-104页 |
·二次映射SVDD 故障分类方法验证实验 | 第104-113页 |
·未去噪样本的故障诊断实验 | 第104-108页 |
·去噪样本的故障诊断实验 | 第108-112页 |
·实验结果分析 | 第112-113页 |
·全样本SVDD 故障分类方法验证实验 | 第113-117页 |
·本章小结 | 第117-118页 |
第七章 总结与展望 | 第118-120页 |
·总结 | 第118-119页 |
·展望 | 第119-120页 |
参考文献 | 第120-125页 |
致谢 | 第125-126页 |
在学期间发表的学术论文 | 第126页 |