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基于时序等价性检查的组合逻辑单元软错误可靠性分析

摘要第1-9页
Abstract第9-10页
第一章 绪论第10-17页
   ·研究背景第10-12页
   ·研究现状第12-15页
     ·形式化技术的应用第12-14页
     ·等价性检查技术的发展第14-15页
   ·本论文的工作及主要贡献第15-16页
     ·本论文的工作第15-16页
     ·本论文的主要贡献第16页
   ·论文结构第16-17页
第二章 组合逻辑单元软错误传播特性第17-22页
   ·逻辑电路中的软错误第17-19页
   ·软错误发展趋势第19-21页
   ·小结第21-22页
第三章 软错误可靠性分析方法第22-30页
   ·形式化技术的应用第22-24页
     ·形式化技术的特点第22页
     ·形式化技术应用的分类第22-24页
     ·形式化技术应用中遇到的问题第24页
   ·等价性检查技术第24-26页
     ·组合等价性检查方法第25-26页
     ·时序等价性检查方法第26页
   ·组合等价性检验算法第26-29页
     ·基于 BDD 的组合电路等价性检验方法第26-27页
     ·基于 SAT 的组合电路等价性检验方法第27-28页
     ·基于 ATPG 的组合电路等价性检验方法第28-29页
   ·小结第29-30页
第四章 基于时序等价性检查的组合逻辑单元软错误敏感点筛选方法第30-38页
   ·组合逻辑单元软错误模型第30-31页
     ·常用软错误模型第30页
     ·本论文建立的模型第30-31页
   ·故障时序传播依赖图第31-32页
   ·方法流程第32-35页
     ·计算模型第32-33页
     ·基本思想与计算模型的构建第33-35页
     ·模型的优化第35页
   ·算法流程第35-36页
   ·实例分析第36-37页
   ·小结第37-38页
第五章 系统设计与实现第38-47页
   ·SEC-SERA 系统框架第38-39页
   ·Verilog 编译器第39-40页
     ·编译器的实现第39页
     ·主要的数据结构第39-40页
   ·软错误可靠性分析模块第40-42页
   ·时序等价性检查模块第42-44页
   ·实验结果及分析第44-46页
     ·示例电路的测试结果分析第44页
     ·部分 ISCAS'89 电路测试结果分析第44-46页
   ·本章小结第46-47页
第六章 论文总结与展望第47-49页
   ·工作总结第47页
   ·工作展望第47-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-57页
作者在学期间取得的学术成果第57页

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