功率MOSFET雪崩能量测试方法与原理分析

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-9页
第一章 绪论	第9-21页
·背景	第9-12页
·发展动态	第12-14页
·发展现状	第14-17页
·问题的提出	第17-19页
·本论文所做的工作	第19-21页
第二章 击穿机理分析	第21-34页
第三章 雪崩测试方法设计与原理分析	第34-56页
·基本测试原理分析	第34-46页
·编译及建立基本测试模型	第46-56页
·建立基本测试模型	第46-52页
·编译检测程序和基本条件设定	第52-54页
·运行检测结果	第54-56页
第四章 实验测试	第56-73页
·编程进行基本测试和说明	第56-58页
·编程进行最大雪崩能量测试	第58-61页
·雪崩能量失效所引起的器件失效	第61-62页
·常规特性失效所引起的器件失效	第62-63页
·编程测试热阻差异对雪崩能量的影响	第63-64页
·编程测试热阻与最大雪崩能量的关系	第64-67页
·热阻与 T1 的关系	第67-68页
·热阻与 T2 的关系	第68-70页
·雪崩能量和 T1 的关系	第70-71页
·小结	第71-73页
第五章 结论	第73-75页
致谢	第75-76页
参考文献	第76-78页
攻硕期间取得的成果	第78-79页