摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
目录 | 第9-13页 |
第一章 引言 | 第13-19页 |
·同步辐射加速器的产生和发展 | 第13-14页 |
·上海光源的简介 | 第14-17页 |
·上海光源的结构 | 第14-15页 |
·上海光源的优越性能 | 第15-17页 |
·束流测量的简介 | 第17-18页 |
参考文献 | 第18-19页 |
第二章 加速器束流位置测量方法 | 第19-39页 |
·束流位置测量方法 | 第20-26页 |
·束流位置探测电极 | 第21-22页 |
·静电探测电极 | 第21页 |
·钮扣电极 | 第21-22页 |
·定向耦合电极 | 第22页 |
·束流位置处理方法 | 第22-25页 |
·束流位置测量技术的发展 | 第25-26页 |
·束流位置测量系统的调研 | 第26-38页 |
·ELSA的模拟束流位置测量系统 | 第27-31页 |
·模拟电子学部分 | 第27-29页 |
·数字电子学部分 | 第29-30页 |
·系统的修正以及系统性能指标 | 第30-31页 |
·Spring-8束流位置测量系统 | 第31-35页 |
·SPring-8储存环BPM系统概况 | 第32页 |
·SPring-8储存环的BPM电子学系统设计 | 第32-35页 |
·NSLS-Ⅱ束流位置测量系统 | 第35-36页 |
·模拟前端部分 | 第35-36页 |
·数字前端部分 | 第36页 |
·Libera束流位置测试系统 | 第36-38页 |
参考文献 | 第38-39页 |
第三章 全数字化束流位置测量系统工程样机的硬件构架 | 第39-76页 |
·输入信号特点及系统期望指标 | 第40-42页 |
·DBPM系统总体设计方案 | 第42-44页 |
·射频信号调理及高速高精度模数变换电路设计 | 第44-65页 |
·射频信号调理通道 | 第44-56页 |
·射频电路的阻抗匹配 | 第45页 |
·带通滤波 | 第45-46页 |
·数控衰减器及射频放大器 | 第46-48页 |
·数控衰减器 | 第47页 |
·射频放大器 | 第47-48页 |
·PI型滤波网络和衰减网络 | 第48-50页 |
·PI型低通滤波网络 | 第48-49页 |
·PI型电阻衰减网络 | 第49-50页 |
·射频信号调理通道的级联方式 | 第50-52页 |
·射频信号模拟调理通道性能评估 | 第52-56页 |
·射频通道滤波性能评估 | 第52-53页 |
·射频通道增益调节的性能评估 | 第53-54页 |
·射频通道伪峰抑制性能 | 第54-56页 |
·ADC及前端耦合电路 | 第56-58页 |
·时钟系统 | 第58-65页 |
·非相干时钟方案 | 第59-63页 |
·相干采样时钟方案 | 第63-64页 |
·相干采样时钟的数字锁相环研究 | 第64-65页 |
·数字信号处理硬件基本构架 | 第65-75页 |
·主FPGA | 第66-67页 |
·接口FPGA | 第67-68页 |
·SBC模块 | 第68-69页 |
·存储芯片 | 第69页 |
·电源芯片 | 第69页 |
·数据传输接口 | 第69-72页 |
·数字处理模块时钟系统 | 第72-73页 |
·数字处理模块硬件分布格局、散热及机械加强 | 第73-75页 |
·数字处理模块硬件布局 | 第73-74页 |
·数字处理模块的散热 | 第74页 |
·数字处理模块的机械加强 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-76页 |
第四章 数字IQ解调实时算法与数据传输的实现与集成 | 第76-98页 |
·数字IQ解调实时算法 | 第77-85页 |
·混频处理算法 | 第79-80页 |
·数字滤波处理算法 | 第80-85页 |
·CIC低通滤波器 | 第80-82页 |
·FIR低通滤波器 | 第82-83页 |
·基于Cordic算法计算幅度 | 第83-84页 |
·基于和比差算法的X、Y位置的计算 | 第84-85页 |
·数据传输的实现与集成 | 第85-97页 |
·数字处理模块的接口 | 第85-86页 |
·数字处理中的数据存储 | 第86页 |
·ADC数据缓存空间 | 第86页 |
·Turn-By-Turn数据缓存空间 | 第86页 |
·数字处理和传输的实现 | 第86-97页 |
·SBC的功能 | 第88页 |
·SBC介绍 | 第88-90页 |
·SBC硬件 | 第90-91页 |
·接口逻辑 | 第91-92页 |
·FPGA与SBC模块间中断传输模式的应用 | 第92-94页 |
·面向FPGA的嵌入式系统驱动设计 | 第94-96页 |
·数据传输测试 | 第96-97页 |
参考文献 | 第97-98页 |
第五章 工程样机的系统测试结果 | 第98-124页 |
·系统测试方法 | 第99-100页 |
·DBPM系统工程样机原型电子学测试结果 | 第100-103页 |
·DBPM系统ADC数据电子学测试结果 | 第100-102页 |
·DBPM系统TBT数据电子学测试结果 | 第102-103页 |
·DBPM系统工程样机原型上海光源现场联调测试结果 | 第103-114页 |
·ADC数据采集模式测试结果 | 第103-105页 |
·大量ADC数据模式测试结果 | 第103-104页 |
·小量ADC数据模式测试结果 | 第104-105页 |
·TBT数据采集模式测试结果 | 第105-108页 |
·大量TBT数据采集模式测试结果 | 第105-107页 |
·DBPM系统小量TBT数据采集模式 | 第107-108页 |
·CO数据采集模式测试结果 | 第108-109页 |
·PM数据采集模式测试结果 | 第109-110页 |
·BAF数据模式测试结果 | 第110-111页 |
·束流注入时大量ADC数据测试结果 | 第111-112页 |
·基于数字锁相环相干时钟方案下的现场联调结果 | 第112-114页 |
·基于数字锁相环相干时钟方案下ADC数据采集模式测试结果 | 第112-113页 |
·基于数字锁相环相干时钟方案下TBT数据采集模式测试结果 | 第113-114页 |
·DBPM系统四套工程样机系统测试结果 | 第114-123页 |
·电子学性能测试 | 第114-119页 |
·X、Y方向位置的修正 | 第119-123页 |
·使用-5dBm输入结果修正-40dBm~10dBm数据 | 第120页 |
·从-40dBm~10dBm各个幅度点分别进行对应修正 | 第120-123页 |
参考文献 | 第123-124页 |
第六章 逐束团位置测量方法探索与研究 | 第124-137页 |
·逐束团位置测量方法研究 | 第125-127页 |
·逐束团测量基本方法仿真结果 | 第127-136页 |
·带通滤波器对信号进行展宽处理 | 第127页 |
·数字滤波器的设计 | 第127-129页 |
·展宽波形的采样 | 第129-131页 |
·滤波器带宽的影响 | 第131-136页 |
·保留谐波个数与幅度相对误差的关系 | 第131-133页 |
·保留谐波个数与波形宽度的关系 | 第133页 |
·保留谐波个数与幅度衰减的关系 | 第133-136页 |
参考文献 | 第136-137页 |
第七章 总结与展望 | 第137-140页 |
·总结 | 第138-139页 |
·展望 | 第139-140页 |
附录 | 第140-144页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第144-146页 |
致谢 | 第146页 |