基于散射系数矩阵法的超声兰姆波与典型缺陷交互作用研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-13页 |
| 物理量名称及符号表 | 第13-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-29页 |
| ·课题背景 | 第15-17页 |
| ·文献综述 | 第17-26页 |
| ·Lamb波的激励 | 第17-19页 |
| ·阵列传感器检测中的成像方法 | 第19-24页 |
| ·Lamb波与缺陷的交互作用 | 第24-26页 |
| ·本文研究工作 | 第26-29页 |
| 第2章 散射系数矩阵理论 | 第29-46页 |
| ·Lamb波的入射场 | 第29-39页 |
| ·平面波前Lamb波 | 第29-32页 |
| ·圆环波前Lamb波 | 第32-36页 |
| ·平面波前Lamb波与圆环波前Lamb波的关系 | 第36-39页 |
| ·模态分析 | 第39-42页 |
| ·Lamb波的模态叠加 | 第42页 |
| ·散射系数矩阵 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第3章 Lamb波在缺陷处的散射有限元仿真研究 | 第46-94页 |
| ·有限元仿真模型 | 第46-54页 |
| ·单一模态的激励 | 第46-51页 |
| ·散射系数矩阵的FE求解模型 | 第51-54页 |
| ·超声导波FE模型中的吸收边界 | 第54页 |
| ·SO模态与孔的交互作用 | 第54-60页 |
| ·SO模态在平底圆孔处的散射 | 第54-57页 |
| ·SO模态在孔缺陷处的全散射系数矩阵 | 第57-60页 |
| ·SO模态散射系数矩阵在孔测量中的应用 | 第60-71页 |
| ·平底孔直径的测量 | 第61-64页 |
| ·平底孔深度的测量 | 第64-71页 |
| ·SO模态与裂纹的交互作用 | 第71-78页 |
| ·SO模态在裂纹缺陷处的散射 | 第71-76页 |
| ·SO模态在裂纹处的全散射系数矩阵 | 第76-78页 |
| ·SO模态散射系数矩阵在裂纹测量中的应用 | 第78-91页 |
| ·裂纹扩展方向的测量 | 第78-82页 |
| ·裂纹长度的测量 | 第82-86页 |
| ·裂纹深度的测量 | 第86-91页 |
| ·本章小结 | 第91-94页 |
| 第4章 SH波在缺陷处的散射有限元仿真研究 | 第94-125页 |
| ·有限元仿真模型 | 第95-98页 |
| ·平面波前与圆环波前SH波 | 第95-96页 |
| ·仿真模型 | 第96-98页 |
| ·SHO模态与孔的交互作用 | 第98-103页 |
| ·SHO模态在孔缺陷处的散射 | 第98-101页 |
| ·SHO模态在孔缺陷处的全散射系数矩阵 | 第101-103页 |
| ·SHO模态散射系数矩阵在孔测量中的应用 | 第103-109页 |
| ·平底孔直径的测量 | 第103-106页 |
| ·平底孔深度的测量 | 第106-109页 |
| ·SHO模态与裂纹的交互作用 | 第109-116页 |
| ·SHO模态在裂纹缺陷处的散射 | 第109-114页 |
| ·SHO模态在裂纹缺陷处的全散射系数矩阵 | 第114-116页 |
| ·SHO模态散射系数矩阵在裂缝缺陷测量中的应用 | 第116-123页 |
| ·裂纹扩展方向的测量 | 第116-118页 |
| ·裂纹长度测量 | 第118-120页 |
| ·裂纹深度测量 | 第120-123页 |
| ·本章小结 | 第123-125页 |
| 第5章 散射系数矩阵测量系统研究 | 第125-149页 |
| ·周向一致激励单一SO模态的电磁声传感器 | 第125-138页 |
| ·模态位移场及其模拟方法 | 第125-126页 |
| ·SO模态EMAT理论模型 | 第126-129页 |
| ·传感器的制作 | 第129页 |
| ·传感器性能评估 | 第129-138页 |
| ·散射系数矩阵测量系统的组建与评估 | 第138-141页 |
| ·S-矩阵实验测量原理 | 第138-139页 |
| ·系统组成 | 第139-141页 |
| ·Chirp信号及其应用 | 第141-148页 |
| ·线性chirp信号 | 第141-142页 |
| ·Gaussian-chirp信号 | 第142-145页 |
| ·检测实验研究 | 第145-148页 |
| ·本章小结 | 第148-149页 |
| 第6章 复杂缺陷的散射系数矩阵测量实验研究 | 第149-165页 |
| ·缺陷散射矩阵测量实验 | 第149-150页 |
| ·信号分析与处理 | 第150-153页 |
| ·实验结果 | 第153-164页 |
| ·孔的S-矩阵测量 | 第153-155页 |
| ·裂纹的S-矩阵测量 | 第155-158页 |
| ·腐蚀的S-矩阵测量 | 第158-164页 |
| ·本章小结 | 第164-165页 |
| 第7章 基于TFM算法的阵列成像技术研究 | 第165-181页 |
| ·超声Lamb波阵列检测参数选择 | 第166-172页 |
| ·板中常用检测模态的激励方式 | 第167-168页 |
| ·频散特性 | 第168-170页 |
| ·波长变化 | 第170-171页 |
| ·Lamb在结构中的衰减 | 第171-172页 |
| ·TFM成像理论 | 第172-173页 |
| ·检测实验 | 第173-177页 |
| ·信号处理 | 第177-178页 |
| ·结果及讨论 | 第178-180页 |
| ·本章小结 | 第180-181页 |
| 结论 | 第181-183页 |
| 参考文献 | 第183-192页 |
| 附录 | 第192-195页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第195-197页 |
| 致谢 | 第197页 |
