基于单片机和CPLD的粗光栅位移测量系统研究
中文摘要 | 第1-4页 |
英文摘要 | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·国外光栅数显装置的发展现状 | 第8-9页 |
·我国光栅数显行业的现状 | 第9-10页 |
·粗光栅位移测量系统的研究现状 | 第10-11页 |
·本文研究的意义及内容 | 第11-13页 |
·本文研究的意义 | 第11-12页 |
·本文研究的内容 | 第12-13页 |
2 基于图像传感器的粗光栅测量系统 | 第13-22页 |
·系统的组成 | 第13-14页 |
·图像传感器CG200 | 第14-15页 |
·系统的工作原理 | 第15-18页 |
·细分辨向原理 | 第18-19页 |
·影响粗光栅系统精度与跟踪速度的因素 | 第19-22页 |
3 系统硬件设计 | 第22-47页 |
·系统硬件框图 | 第22-23页 |
·传感器视频信号处理电路设计及仿真 | 第23-24页 |
·滤波与整形电路 | 第23-24页 |
·预报警信号产生电路 | 第24页 |
·CPLD 信号处理电路设计 | 第24-32页 |
·CPLD 选型及器件开发环境简介 | 第24-27页 |
·CPLD 与单片机接口的控制信号的实现 | 第27-28页 |
·传感器驱动信号的产生 | 第28-29页 |
·计数功能的实现 | 第29-32页 |
·单片机信号处理电路设计 | 第32-44页 |
·单片机AT89C55 芯片 | 第32-36页 |
·单片机与字符液晶显示模块SMC1602 的接口 | 第36-38页 |
·单片机与键盘的接口 | 第38-40页 |
·电源监控与复位设计 | 第40-43页 |
·扩展数据存储器 | 第43-44页 |
·PCB 设计 | 第44-47页 |
·电源、地的设计 | 第44-45页 |
·去耦电容的设计 | 第45页 |
·电磁兼容性(EMC)设计 | 第45-47页 |
4 单片机程序设计 | 第47-58页 |
·单片机程序开发流程和工具 | 第47-51页 |
·单片机应用系统设计流程 | 第47-48页 |
·单片机编程语言介绍 | 第48-49页 |
·单片机C 语言的优缺点 | 第49页 |
·集成开发环境及仿真器介绍 | 第49-51页 |
·粗光栅测量系统软件设计 | 第51-58页 |
·程序中的函数定义及声明 | 第51-53页 |
·主程序模块 | 第53-54页 |
·数据处理模块 | 第54-55页 |
·数据显示模块 | 第55-56页 |
·键盘管理模块 | 第56-58页 |
5 系统调试及实验结果 | 第58-65页 |
·系统调试过程及步骤 | 第58-63页 |
·实验系统组成 | 第58-59页 |
·调试的软件环境设置 | 第59-60页 |
·软件调试结果观察 | 第60-61页 |
·硬件电路调试结果及说明 | 第61-63页 |
·实验结果及说明 | 第63-65页 |
6 结束语 | 第65-67页 |
·论文完成的主要工作 | 第65页 |
·设计的改进与完善 | 第65-66页 |
·发展与展望 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-70页 |
附录:作者在攻读硕士期间发表的论文 | 第70页 |