基于可编程器件的存储测试系统设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究背景 | 第9-12页 |
| ·国内外发展现状 | 第12-14页 |
| ·本文的内容安排 | 第14-15页 |
| 2 基于专用 ASIC 的存储测试系统设计 | 第15-29页 |
| ·存储测试系统对装置的要求 | 第15-16页 |
| ·专用集成电路简介 | 第16-17页 |
| ·基于专用ASIC 的引信四通道参数测试仪 | 第17-25页 |
| ·引信四通道参数测试仪的整体结构 | 第17页 |
| ·信号调理部分硬件设计与实现 | 第17-20页 |
| ·智能化的电源管理设计 | 第20-21页 |
| ·测试系统功能检测报告 | 第21-25页 |
| ·基于ASIC 的微型引信电池测试系统 | 第25-29页 |
| 3 基于ispPAC 的存储模块设计 | 第29-39页 |
| ·可编程模拟芯片的比较 | 第29-34页 |
| ·基于ispPAC20 的存储模块设计 | 第34-39页 |
| ·设计ispPAC20 存储模块的方案 | 第35-36页 |
| ·功能验证 | 第36-39页 |
| 4 基于PSoC 的存储测试系统设计 | 第39-64页 |
| ·PSoC 方案与其它方案的比较 | 第39-40页 |
| ·系统设计方案 | 第40-42页 |
| ·存储测试系统的PSoC 内部模块设计 | 第42-53页 |
| ·系统全局资源的配置 | 第42-44页 |
| ·滤波器电路设计 | 第44-46页 |
| ·放大器设计 | 第46-47页 |
| ·模数转换器（ADC）设计 | 第47-49页 |
| ·串口（UART）设计 | 第49-51页 |
| ·复用I/O 口的设计 | 第51-53页 |
| ·数据存储方案设计 | 第53-55页 |
| ·数据存储方案比较 | 第53-54页 |
| ·负延迟存储原理 | 第54-55页 |
| ·单片机通讯实现 | 第55-56页 |
| ·印刷电路的抗干扰设计 | 第56-58页 |
| ·印刷电路板的设计和电气连线 | 第57页 |
| ·电源和地线的设计 | 第57-58页 |
| ·去耦电容的配置 | 第58页 |
| ·软件设计 | 第58-61页 |
| ·PSoC 软件设计要求 | 第59-60页 |
| ·PSoC 软件设计流程 | 第60-61页 |
| ·上位机的软件设计 | 第61页 |
| ·结论 | 第61-64页 |
| ·基于PSoC 的存储测试系统的小结 | 第61-63页 |
| ·基于PSoC 的存储测试系统的应用展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
