基于FPGA的动态可重构系统分析
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外现状 | 第8-9页 |
| ·本文完成的工作和主要成果 | 第9-11页 |
| 第二章 演化硬件 | 第11-17页 |
| ·演化硬件的背景和意义 | 第11-12页 |
| ·分类 | 第12-13页 |
| ·可重构系统与演化硬件的关系 | 第13-14页 |
| ·应用 | 第14-17页 |
| 第三章 遗传算法 | 第17-31页 |
| ·遗传算法的定义 | 第17-18页 |
| ·遗传算法的基本思想及组成要素 | 第18-25页 |
| ·编码 | 第20-21页 |
| ·选择 | 第21-23页 |
| ·交叉变异 | 第23-24页 |
| ·运行参数 | 第24-25页 |
| ·遗传算法的特点和缺陷 | 第25-26页 |
| ·操作代码简介 | 第26-31页 |
| ·适应度函数的估计 | 第26-27页 |
| ·交叉变异操作 | 第27-31页 |
| 第四章 硬件平台 | 第31-43页 |
| ·FPGA 的历史和发展 | 第31页 |
| ·FPGA 的基本结构 | 第31-33页 |
| ·Xilinx XC6200 FPGA | 第33-37页 |
| ·基本逻辑结构 | 第35页 |
| ·可配置的逻辑单元结构 | 第35-37页 |
| ·进化硬件平台搭建 | 第37-40页 |
| ·遗传算法单元 | 第37-38页 |
| ·可编程逻辑阵列单元 | 第38-39页 |
| ·外部RAM 存储单元 | 第39-40页 |
| ·硬件结构 | 第40-43页 |
| 第五章 试验平台 | 第43-65页 |
| ·实验平台介绍 | 第43-44页 |
| ·单元设计 | 第44-48页 |
| ·NAND 门 | 第44-45页 |
| ·多路选择器 | 第45页 |
| ·移位寄存器 | 第45页 |
| ·完整的单元结构 | 第45-48页 |
| ·硬件测试 | 第48-56页 |
| ·基本单元测试 | 第50-53页 |
| ·扩展单元测试 | 第53-56页 |
| ·结果分析 | 第56-65页 |
| ·与门初始测试结果 | 第56-59页 |
| ·震荡检测电路 | 第59-61页 |
| ·或门初始测试结果 | 第61-63页 |
| ·双稳态测试电路 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 科研成果 | 第71-72页 |
