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APCVD法硅化钛薄膜和硅化钛纳米线的研究

摘要第1-8页
ABSTRACT第8-14页
目录第14-16页
第一章 绪论第16-20页
第二章 文献综述第20-52页
   ·硅化钛薄膜第20-29页
     ·硅化钛的组成及结构第20-21页
     ·硅化钛的应用第21-23页
     ·硅化钛薄膜的制备方法第23-29页
   ·金属硅化物纳米线第29-34页
     ·金属硅化物纳米线的性质第29-30页
     ·金属硅化物纳米线的应用前景第30页
     ·金属硅化物纳米线的制备第30-34页
   ·低辐射镀膜玻璃第34-41页
     ·低辐射镀膜玻璃的节能原理第35-36页
     ·低辐射镀膜玻璃的种类第36-38页
     ·低辐射镀膜玻璃的应用现状第38-39页
     ·低辐射镀膜玻璃制备技术第39-41页
   ·研究目的、意义和内容第41-42页
   ·参考文献第42-52页
第三章 实验方法第52-58页
   ·APCVD硅化钛薄膜和纳米线的制备过程第52-55页
     ·APCVD硅化钛实验装置第52-53页
     ·实验操作第53-55页
   ·测试设备及其原理第55-58页
     ·X射线衍射(XRD)第55-56页
     ·透射电子显微镜(TEM)第56页
     ·场发射扫描电镜(FESEM)第56-57页
     ·薄膜电阻的测定第57页
     ·紫外-可见光透射率测试第57页
     ·红外反射率测试第57-58页
第四章 玻璃基板上APCVD法硅化钛薄膜的制备与晶相形成研究第58-84页
   ·APCVD法TiSi_2薄膜的制备与晶相形成研究第58-75页
     ·APCVD法TiSi_2薄膜的制备第58-61页
     ·SiH_4与TiCl_4生成TiSi_2的热力学分析第61-66页
     ·TiSi_2薄膜的晶相形成机制第66-71页
     ·TiSi_2薄膜生长的晶相堆积模型第71-75页
   ·APCVD法Ti_5Si_3薄膜的制备与晶相形成的研究第75-80页
     ·APCVD法Ti_5Si_3薄膜的制备第75-78页
     ·SiH_4与TiCl_4生成Ti_5Si_3的热力学分析第78-80页
   ·本章小结第80-81页
   ·参考文献第81-84页
第五章 晶相形成对硅化钛薄膜的电学与光学性能影响的研究第84-100页
   ·晶相形成对硅化钛薄膜的电学性能影响的研究第84-91页
     ·TiSi_2晶相形成与薄膜电学性能的关系第84-90页
     ·Ti_5Si_3晶相形成与薄膜电学性能的关系第90-91页
   ·晶相形成对硅化钛薄膜的光学性能影响的研究第91-97页
     ·晶相形成与薄膜透射性能的关系第91-95页
     ·晶相形成与薄膜反射性能的关系第95-97页
   ·本章小节第97-98页
   ·参考文献第98-100页
第六章 常压化学气相沉积两步法制备TISI纳米线的研究第100-118页
   ·APCVD两步法自诱导制备T(?)S(?)纳米线第100-109页
     ·APCVD两步法TiSi纳米线的制备与形成的研究第100-105页
     ·APCVD两步法TiSi纳米线的形成与生长机制研究第105-109页
   ·制备条件对T(?)S(?)纳米线生长形态的影响第109-116页
   ·本章小结第116-117页
   ·参考文献第117-118页
第七章 APCVD三步法制备TISI纳米钉和火箭状纳米线的研究第118-136页
   ·APCVD三步法T(?)S(?)纳米钉的研究第118-130页
     ·APCVD三步法TiSi纳米钉的制备与形成研究第118-123页
     ·APCVD三步法TiSi纳米钉的生长与机制研究第123-126页
     ·TiSi纳米钉生长的动力学分析第126-130页
   ·APCVD三步法火箭状T(?)S(?)纳米线制备与形成研究第130-133页
   ·本章小结第133-134页
   ·参考文献第134-136页
第八章 总结与展望第136-140页
   ·总结第136-139页
   ·展望第139-140页
攻读博士期间发表的论文和申请的专利第140-142页
致谢第142-143页

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