噪声用于半导体器件可靠性研究

第一章 半导体器件电噪声综述	第1-17页
·噪声的数学基础	第7-10页
·概率密度函数与平均值	第7-8页
·自相关函数与功率谱密度	第8-10页
·半导体器件电噪声的分类和特点	第10-14页
·电噪声	第10页
·电噪声的分类和特点	第10-14页
·噪声用于半导体器件质量及可靠性检测	第14-16页
·噪声用于半导体器件质量及可靠性检测的特点	第14-15页
·噪声作为电子器件的可靠性表征	第15-16页
·本论文的主要工作	第16-17页
第二章 噪声测试系统	第17-23页
·噪声测量方法	第17-19页
·直接测量法	第17页
·互谱测量法	第17-19页
·测试系统的硬件构成	第19页
·测试系统中的抗干扰技术	第19-22页
·驱动电源的选择	第19-20页
·空间电磁场干扰的抑制	第20页
·接地技术	第20-22页
·小结	第22-23页
第三章 噪声用于半导体激光器可靠性评估和筛选	第23-39页
·半导体激光器的可靠性	第23-27页
·半导体激光器的可靠性概述	第23页
·影响半导体激光器可靠性的主要因素	第23-25页
·半导体激光器可靠性的研究方法	第25-27页
·噪声与器件质量可靠性的相关性研究	第27-38页
·半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声	第27-31页
·加速老化电流条件下的电噪声	第31-38页
·小结	第38-39页
第四章 双极晶体管的表面 1/f 噪声	第39-49页
·表面 1/f 噪声理论基础	第39-43页
·p-n结的表面1/f噪声	第39-40页
·双极晶体管的表面 1/f 噪声	第40-43页
·控制界面态减少表面可动电荷降低晶体管的电噪声	第43-48页
·小结	第48-49页
结论	第49-50页
参考文献	第50-54页
摘要	第54-60页
致谢	第60-61页
导师及作者简介	第61页