高反膜的高精度镀制研究
第一章 绪论 | 第1-17页 |
·光学薄膜技术简介及目前在国内外的发展情况 | 第12-14页 |
·本课题的来源、目的及主要研究内容 | 第14页 |
·课题成果的应用前景 | 第14-17页 |
第二章 光学用薄膜蒸发镀膜的原理及镀膜设备的改造 | 第17-28页 |
·真空蒸法镀膜的原理 | 第17-20页 |
·原有设备的总体情况 | 第20-21页 |
·改造过程 | 第21-28页 |
·真空系统 | 第21页 |
·离子源辅助沉积装置 | 第21-24页 |
·监控系统 | 第24-28页 |
第三章 高反膜的膜系设计 | 第28-42页 |
·光学薄膜的基本原理及相关计算 | 第28-34页 |
·单层介质薄膜的反射率计算 | 第29-33页 |
·多层介质薄膜反射率的计算 | 第33-34页 |
·高反膜的设计 | 第34-42页 |
·高反膜膜系的反射率计算 | 第36页 |
·高反膜膜系的设计 | 第36-38页 |
·最优化方法在薄膜设计中的应用 | 第38-42页 |
第四章 薄膜样品的生产实践及性能测试 | 第42-48页 |
·样品的生产试验流程 | 第42-45页 |
·实验方法及过程 | 第42-43页 |
·膜厚控制 | 第43-45页 |
·样品的性能测试及结果 | 第45-48页 |
·光学性能测试 | 第45-46页 |
·表面质量检验 | 第46-47页 |
·膜层牢固度检验 | 第47页 |
·环境试验 | 第47-48页 |
第五章 高反膜膜系的优化设计 | 第48-54页 |
·影响薄膜损耗的几个重要因素 | 第48-49页 |
·高反膜膜系的优化设计 | 第49-54页 |
第六章 结论 | 第54-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
个人论文 | 第59-60页 |
附录 | 第60页 |
附录一 规整膜系反射率的计算程序 | 第60-61页 |
附录二 评价函数程序 | 第61-62页 |
附录三 单纯形法优化程序 | 第62-65页 |
附录四 优化电场强度的评价函数 | 第65页 |