第一章 绪论 | 第1-12页 |
·背景 | 第10页 |
·高速背板 | 第10-11页 |
·课题内容及论文安排 | 第11-12页 |
第二章 信号完整性及LVDS技术 | 第12-22页 |
·信号完整性 | 第12-17页 |
·信号完整性问题 | 第12页 |
·电源面信号回路 | 第12页 |
·接地 | 第12-13页 |
·信号反射和振荡的形成 | 第13页 |
·阻抗匹配与端接方案 | 第13-16页 |
·不同工艺器件的端接策略 | 第16页 |
·串扰 | 第16页 |
·PCB设计中的EMI和EMC | 第16-17页 |
·LVDS技术 | 第17-20页 |
·LVDS的提出 | 第17页 |
·LVDS技术原理 | 第17-18页 |
·LVDS传输线 | 第18页 |
·LVDS电路结构 | 第18-19页 |
·LVDS的特点 | 第19-20页 |
·LVDS器件 | 第20-22页 |
·FPGA | 第20-21页 |
·LVDS芯片 | 第21-22页 |
第三章 实验系统的功能设计 | 第22-34页 |
·总体设计 | 第22页 |
·差分传输线设计 | 第22-24页 |
·LVDS传输方式 | 第22-23页 |
·LVDS编组传输 | 第23页 |
·TTL与LVDS的复用解复用 | 第23-24页 |
·供电模块设计 | 第24-25页 |
·时钟设计 | 第25-27页 |
·时钟模块的设计 | 第25-26页 |
·XC2V1000的DCM | 第26页 |
·XC2S200E的DCI | 第26页 |
·LVDS的时钟 | 第26-27页 |
·FPGA配置 | 第27-30页 |
·FPGA的配置模式 | 第27-28页 |
·串行菊花链配置 | 第28-29页 |
·JTAG配置 | 第29-30页 |
·系统复位 | 第30页 |
·外围电路设计 | 第30-31页 |
·AD电路 | 第30页 |
·SRAM电路 | 第30-31页 |
·外部接口 | 第31-33页 |
·子板与主板接口 | 第31页 |
·RS232接口 | 第31-32页 |
·异步FIFO接口 | 第32-33页 |
·测试接口 | 第33页 |
·子板功能图 | 第33-34页 |
第四章 高速数字电路板设计 | 第34-44页 |
·电源分配网络的设计 | 第34-36页 |
·电源层的设计 | 第34页 |
·电源层的分配 | 第34-35页 |
·电源层的分割 | 第35-36页 |
·旁路电容 | 第36页 |
·FPGA布局设计 | 第36-38页 |
·XC2V1000布局设计 | 第36-37页 |
·XC2S200E布局设计 | 第37-38页 |
·LVDS差分线设计 | 第38-40页 |
·尺寸设计 | 第38页 |
·终端匹配电阻 | 第38-39页 |
·LVDS差分对走线长度设计 | 第39-40页 |
·LVDS布线设计 | 第40-43页 |
·XC2V1000与PCN110接插件之间LVDS的走线 | 第40-41页 |
·XC2V1000与XC2S200E之间LVDS的走线 | 第41-42页 |
·XC2V1000自环路的走线 | 第42页 |
·PCN110接插件设计 | 第42-43页 |
·TTL传输线设计 | 第43页 |
·实验系统子板和背板实物图 | 第43-44页 |
第五章 测试结果及分析 | 第44-54页 |
·实验系统 | 第44-45页 |
·测试仪器 | 第45页 |
·电源噪声测试 | 第45-47页 |
·测试方案 | 第45页 |
·V电源噪声测试 | 第45-46页 |
·V电源噪声测试 | 第46-47页 |
·V电源噪声测试 | 第47页 |
·眼图测试 | 第47-52页 |
·板内眼图测试方案 | 第47-48页 |
·板间眼图测试方案 | 第48页 |
·板内眼图测试结果及分析 | 第48-50页 |
·板间眼图测试结果及分析 | 第50-52页 |
·眼图测试结果总结 | 第52页 |
·误比特率测试 | 第52-54页 |
·误比特率测试方案 | 第52页 |
·误比特率测试结果及分析 | 第52-53页 |
·误比特率测试结果总结 | 第53-54页 |
第六章 总结 | 第54-56页 |
·课题总结 | 第54页 |
·系统改进意见 | 第54-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |
致 谢 | 第58页 |