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高速数字电路实验验证系统的设计与实现

第一章 绪论第1-12页
   ·背景第10页
   ·高速背板第10-11页
   ·课题内容及论文安排第11-12页
第二章 信号完整性及LVDS技术第12-22页
   ·信号完整性第12-17页
     ·信号完整性问题第12页
     ·电源面信号回路第12页
     ·接地第12-13页
     ·信号反射和振荡的形成第13页
     ·阻抗匹配与端接方案第13-16页
     ·不同工艺器件的端接策略第16页
     ·串扰第16页
     ·PCB设计中的EMI和EMC第16-17页
   ·LVDS技术第17-20页
     ·LVDS的提出第17页
     ·LVDS技术原理第17-18页
     ·LVDS传输线第18页
     ·LVDS电路结构第18-19页
     ·LVDS的特点第19-20页
   ·LVDS器件第20-22页
     ·FPGA第20-21页
     ·LVDS芯片第21-22页
第三章 实验系统的功能设计第22-34页
   ·总体设计第22页
   ·差分传输线设计第22-24页
     ·LVDS传输方式第22-23页
     ·LVDS编组传输第23页
     ·TTL与LVDS的复用解复用第23-24页
   ·供电模块设计第24-25页
   ·时钟设计第25-27页
     ·时钟模块的设计第25-26页
     ·XC2V1000的DCM第26页
     ·XC2S200E的DCI第26页
     ·LVDS的时钟第26-27页
   ·FPGA配置第27-30页
     ·FPGA的配置模式第27-28页
     ·串行菊花链配置第28-29页
     ·JTAG配置第29-30页
     ·系统复位第30页
   ·外围电路设计第30-31页
     ·AD电路第30页
     ·SRAM电路第30-31页
   ·外部接口第31-33页
     ·子板与主板接口第31页
     ·RS232接口第31-32页
     ·异步FIFO接口第32-33页
     ·测试接口第33页
   ·子板功能图第33-34页
第四章 高速数字电路板设计第34-44页
   ·电源分配网络的设计第34-36页
     ·电源层的设计第34页
     ·电源层的分配第34-35页
     ·电源层的分割第35-36页
     ·旁路电容第36页
   ·FPGA布局设计第36-38页
     ·XC2V1000布局设计第36-37页
     ·XC2S200E布局设计第37-38页
   ·LVDS差分线设计第38-40页
     ·尺寸设计第38页
     ·终端匹配电阻第38-39页
     ·LVDS差分对走线长度设计第39-40页
   ·LVDS布线设计第40-43页
     ·XC2V1000与PCN110接插件之间LVDS的走线第40-41页
     ·XC2V1000与XC2S200E之间LVDS的走线第41-42页
     ·XC2V1000自环路的走线第42页
     ·PCN110接插件设计第42-43页
   ·TTL传输线设计第43页
   ·实验系统子板和背板实物图第43-44页
第五章 测试结果及分析第44-54页
   ·实验系统第44-45页
   ·测试仪器第45页
   ·电源噪声测试第45-47页
     ·测试方案第45页
       ·V电源噪声测试第45-46页
       ·V电源噪声测试第46-47页
       ·V电源噪声测试第47页
   ·眼图测试第47-52页
     ·板内眼图测试方案第47-48页
     ·板间眼图测试方案第48页
     ·板内眼图测试结果及分析第48-50页
     ·板间眼图测试结果及分析第50-52页
     ·眼图测试结果总结第52页
   ·误比特率测试第52-54页
     ·误比特率测试方案第52页
     ·误比特率测试结果及分析第52-53页
     ·误比特率测试结果总结第53-54页
第六章 总结第54-56页
   ·课题总结第54页
   ·系统改进意见第54-56页
参考文献第56-58页
致 谢第58页

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