～7Be衰变率在Be和Au中变化的研究
| 第一章 引言 | 第1-11页 |
| 1． 1 历史上对衰变率变化的研究[1] | 第7-9页 |
| 1． 2 研究意义[24-27] | 第9-11页 |
| 第二章 实验原理 | 第11-15页 |
| 2． 1 电子俘获过程的理论描述[1] | 第11-12页 |
| 2． 2 实验测量原理 | 第12-15页 |
| 2． 2． 1 实验原理 | 第12-13页 |
| 2． 2． 2 数据处理方法 | 第13-15页 |
| 第三章 放射源7Be的制备 | 第15-20页 |
| 3． 1 注入法简介 | 第15页 |
| 3． 2 靶片制备 | 第15-18页 |
| 3． 2． 1 靶材料的选择 | 第15-16页 |
| 3． 2． 2 靶尺寸参数的选择与制备 | 第16-18页 |
| 3． 3 样品的照射 | 第18-20页 |
| 3． 3． 1 靶片的安装 | 第18-19页 |
| 3． 3． 2 样品照射 | 第19-20页 |
| 第四章 实验测量装置与数据获取系统 | 第20-27页 |
| 4． 1 实验测量装置 | 第20-24页 |
| 4． 1． 1 测量装置的布局 | 第20页 |
| 4． 1． 2 实验装置的电子学系统 | 第20-24页 |
| 4． 2 数据获取系统KODAQ | 第24-27页 |
| 4． 2． 1 KODAQ的安装与调试 | 第24-26页 |
| 4． 2． 2 数据获取 | 第26-27页 |
| 第五章 γ谱分析处理的几个问题 | 第27-38页 |
| 5． 1 峰面积和本底[40] | 第27-28页 |
| 5． 2 本底扣除技术 | 第28页 |
| 5． 3 几种主要修正 | 第28-31页 |
| 5． 3． 1 级联符合损失修正 | 第29页 |
| 5． 3． 2 偶然符合损失修正 | 第29页 |
| 5． 3． 3 吸收和散射的修正 | 第29页 |
| 5． 3． 4 几何因素修正 | 第29-30页 |
| 5． 3． 5 本底辐射修正 | 第30页 |
| 5． 3． 6 死时间修正 | 第30-31页 |
| 5． 4 峰位和半宽度的计算[48] | 第31-32页 |
| 5． 5 能量刻度 | 第32-36页 |
| 5． 5． 1 能量刻度方法 | 第32页 |
| 5． 5． 2 本实验探测器的能量刻度与分析 | 第32-36页 |
| 5． 6 探测器分辩刻度 | 第36-38页 |
| 第六章 结果与分析 | 第38-45页 |
| 6． 1 数据获取与分析处理流程 | 第38页 |
| 6． 2 实验数据处理 | 第38-45页 |
| 6． 2． 1 每天的计数率和相应的时间坐标 | 第38-39页 |
| 6． 2． 2 计数率的死时间修正 | 第39-40页 |
| 6． 2． 3 实验结果 | 第40-44页 |
| 6． 2． 4 结果讨论 | 第44-45页 |
| 结束语 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 附录 靶管、靶片与靶室的机械制图与实物照片 | 第48-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
