内弹道存储测试系统的设计和仿真
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
1 绪论 | 第9-16页 |
·课题的背景与意义 | 第9-10页 |
·国内外发展状况 | 第10-11页 |
·存储测试系统的应用 | 第11-15页 |
·存储测试系统在军事上的应用 | 第11-14页 |
·存储测试系统在民事上的应用 | 第14-15页 |
·主要工作和论文内容安排 | 第15-16页 |
2 内弹道存储测试系统的总体设计 | 第16-21页 |
·内弹道存储测试系统的总体结构 | 第16-17页 |
·内弹道存储测试系统的设计要求和总体方案 | 第17-20页 |
·被测信号分析 | 第17-18页 |
·系统整体结构框图 | 第18-20页 |
·本章小结 | 第20-21页 |
3 内弹道存储测试系统的硬件设计与实现 | 第21-41页 |
·压力信号采集的实现 | 第21-22页 |
·系统硬件电路的总体设计 | 第22-23页 |
·信号调理部分的硬件设计与实现 | 第23-30页 |
·信号调理的目的 | 第23-24页 |
·电荷放大电路的设计 | 第24-27页 |
·低通滤波电路的设计 | 第27-30页 |
·采样触发部分的硬件设计与实现 | 第30-31页 |
·触发方式的选择 | 第30-31页 |
·采样触发电路的设计 | 第31页 |
·A/D转换和数据处理部分的硬件设计与实现 | 第31-36页 |
·单片机的选型 | 第32页 |
·A/D转换的实现 | 第32-34页 |
·A/D转换和数据处理电路的设计 | 第34-36页 |
·数据存储部分的硬件设计与实现 | 第36-38页 |
·静态存储器电路 | 第36-37页 |
·铁电存储器电路 | 第37-38页 |
·与上位机通讯部分的硬件设计与实现 | 第38-39页 |
·印制电路板的设计 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
4 内弹道存储测试系统的软件设计与实现 | 第41-49页 |
·单片机部分的软件设计和实现 | 第41-47页 |
·单片机部分的总体程序设计 | 第41-43页 |
·A/D转换部分的程序设计 | 第43-45页 |
·SPI串口传输的程序设计 | 第45-46页 |
·串口通讯中下位机部分的程序设计 | 第46-47页 |
·串口通讯中上位机部分的软件设计和实现 | 第47-48页 |
·本章小节 | 第48-49页 |
5 内弹道存储测试系统的调试与仿真 | 第49-53页 |
·系统输入信号的分析 | 第49-50页 |
·电路的仿真分析 | 第50-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
6 内弹道存储测试系统的结构强度分析 | 第53-58页 |
·系统的结构设计 | 第53-56页 |
·系统结构的强度分析 | 第56-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
7 结束语 | 第58-60页 |
·工作总结 | 第58-59页 |
·问题与展望 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-65页 |