摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·纳米 | 第9-12页 |
·纳米与纳米技术 | 第9页 |
·纳米材料 | 第9-11页 |
·纳米薄膜 | 第11-12页 |
·ITO 纳米功能膜 | 第12-15页 |
·ITO 纳米功能膜的性质与发展前景 | 第12页 |
·ITO 纳米功能膜制备方法 | 第12-15页 |
·本课题研究目的与意义 | 第15页 |
·课题研究的主要内容 | 第15-17页 |
第二章 ITO 纳米功能膜的磁控溅射制备 | 第17-23页 |
·磁控溅射仪器介绍 | 第17页 |
·磁控溅射仪器工作原理 | 第17-18页 |
·ITO 纳米功能膜的制备 | 第18-23页 |
·基材的准备 | 第18-19页 |
·薄膜制备的实验步骤 | 第19页 |
·薄膜制备的工艺参数选择 | 第19-23页 |
第三章 ITO 纳米功能膜微观结构分析 | 第23-35页 |
·SEM、EDX、XRD、AFM 工作原理与仪器介绍 | 第23-25页 |
·SEM 工作原理与仪器介绍 | 第23页 |
·EDX 工作原理与仪器介绍 | 第23-24页 |
·XRD 仪器介绍 | 第24页 |
·AFM 成像原理及仪器介绍 | 第24-25页 |
·SEM、EDX、XRD、AFM 实验结论与分析 | 第25-34页 |
·SEM 实验结论分析 | 第25-26页 |
·EDX 实验结论分析 | 第26-27页 |
·XRD 实验结果与分析 | 第27-28页 |
·AFM 表征与结果分析 | 第28-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第四章 ITO 镀膜材料抗紫外线性能和导电性能研究 | 第35-44页 |
·紫外/可见分光光度计和四探针测试仪的工作原理 | 第35-36页 |
·紫外/可见分光光度计工作原理和仪器简介 | 第35页 |
·四探针测试仪工作原理和仪器简介 | 第35-36页 |
·镀膜材料的抗紫外线性能和导电性能 | 第36-42页 |
·镀膜材料的抗紫外线性能 | 第36-39页 |
·镀膜材料的导电性能 | 第39-42页 |
·本章小结 | 第42-44页 |
第五章 ITO 与非织造材料界面结合分析 | 第44-54页 |
·关于附着的概述 | 第44-45页 |
·附着的机理 | 第44页 |
·影响附着力的因素 | 第44-45页 |
·界面的微观结构 | 第45-48页 |
·实验的准备 | 第45-46页 |
·实验结果与分析 | 第46-48页 |
·剥离实验 | 第48-52页 |
·样品的制备 | 第48-49页 |
·剥离实验条件 | 第49页 |
·剥离实验过程 | 第49页 |
·剥离实验结果与分析 | 第49-52页 |
·耐磨实验 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第六章 结论与展望 | 第54-56页 |
·总结 | 第54-55页 |
·课题不足和展望 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
附录:读研期间发表论文 | 第59页 |