| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-22页 |
| 一、粒子物理理论 | 第9-15页 |
| （一） 量子场论 | 第9-10页 |
| （二） 标准模型 | 第10-12页 |
| （三） 强子组成 | 第12-15页 |
| （四） 粒子物理理论的发展 | 第15页 |
| 二、粒子物理实验 | 第15-18页 |
| （一） 硬件的建设 | 第15-18页 |
| （二） 离线软件的开发 | 第18页 |
| （三） 物理分析 | 第18页 |
| 三、粲偶素家族和J/ψ衰变 | 第18-20页 |
| （一） J/ψ粒子的性质 | 第19页 |
| （二） J/ψ粒子的衰变模式 | 第19-20页 |
| 四、论文的选题动机和论文的结构 | 第20-21页 |
| （一） 论文的选题动机 | 第20页 |
| （二） 论文的结构 | 第20-21页 |
| 第1章 参考文献 | 第21-22页 |
| 第2章 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第22-31页 |
| 一、北京正负电子对撞机（BEPC）简介 | 第22-23页 |
| 二、北京谱仪BESIII | 第23-29页 |
| （一） BESIII 主要性能指标 | 第24-25页 |
| （二） BESIII 组成部分介绍 | 第25-27页 |
| （三） BESIII 研究的主要物理内容 | 第27-28页 |
| （四） BESIII 的现状 | 第28-29页 |
| 三、本章小结 | 第29页 |
| 第2章 参考文献 | 第29-31页 |
| 第3章 通过J/ψ→μ+μ-确定BESIII 上J/ψ事例的总数 | 第31-39页 |
| 一、引言 | 第31页 |
| 二、测量原理和方法 | 第31-38页 |
| （一） 测量的原理 | 第31-32页 |
| （二） MC 事例产生 | 第32页 |
| （三） 事例的挑选和本底分析 | 第32-37页 |
| （四） 输入输出检查 | 第37页 |
| （五） 系统误差讨论 | 第37-38页 |
| 三、本章小结 | 第38页 |
| 第3章 参考文献 | 第38-39页 |
| 第4章 BESIII 上J/ψ→μ+μ-分支比的测量 | 第39-52页 |
| 一、引言 | 第39页 |
| 二、测量原理和方法 | 第39-40页 |
| （一） 直接测量 | 第39页 |
| （二） 间接测量 | 第39-40页 |
| 三、测量过程 | 第40-50页 |
| （一） 蒙特卡罗（MC）样本与数据（Data）样本 | 第40-41页 |
| （二） ψ(25)→π+π-J/ψ, J/ψ→anything 和J/ψ→μ+μ-事例的挑选 | 第41-48页 |
| （三） 拟合并计算分支比 | 第48-50页 |
| 四、测量结果 | 第50页 |
| 五、本章小结 | 第50-51页 |
| 第4 章参考文献 | 第51-52页 |
| 第5章 总结与讨论 | 第52-53页 |
| 第5章 参考文献 | 第52-53页 |
| 附录A BOSS 工作环境设置及数据分析 | 第53-57页 |
| 附录B 论文中使用到的MC 产生子 | 第57-58页 |
| 附录C ROOT 作图脚本及Roofit 拟合脚本 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
