摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第1章 绪论 | 第12-20页 |
·研究背景及意义 | 第12-15页 |
·研究现状 | 第15-18页 |
·国外研究现状 | 第15-16页 |
·国内研究现状 | 第16-18页 |
·研究目标 | 第18-19页 |
·研究内容 | 第19-20页 |
第2章 汽车电子设备及耦合机理分析 | 第20-34页 |
·汽车电子设备 | 第20-25页 |
·组成及结构分析 | 第20-23页 |
·重要性分析 | 第23-25页 |
·汽车干扰耦合途径分析 | 第25-29页 |
·传导耦合 | 第25页 |
·共阻抗耦合 | 第25-27页 |
·感应耦合 | 第27页 |
·辐射耦合 | 第27-29页 |
·电磁能量的传递衰减 | 第29-30页 |
·汽车典型干扰及损伤状态 | 第30-33页 |
·半导体器件击穿 | 第30-31页 |
·汽车绝缘材料击穿 | 第31页 |
·继电器损坏对汽车的影响 | 第31-33页 |
·干扰及损伤阈值判定 | 第33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
第3章 汽车电子设备耦合机理及损伤机理试验 | 第34-48页 |
·线间传导耦合测试试验 | 第34-39页 |
·线缆测试系统搭建 | 第35-38页 |
·测试结果分析 | 第38-39页 |
·半导体损伤阈值测试 | 第39-44页 |
·阈值测试系统搭建 | 第40-43页 |
·测试不确定度分析 | 第43-44页 |
·电磁脉冲峰值能量与平均功率对损伤阈值影响 | 第44-45页 |
·临界阈值的范围 | 第45-47页 |
·电路中电击穿及热累积效应 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第4章 汽车电子设备干扰与损伤阈值测试 | 第48-58页 |
·测试平台搭建 | 第48-51页 |
·测试平台组成及器件选择 | 第48-51页 |
·测试能力分析 | 第51页 |
·分系统干扰及损伤阈值测试 | 第51-57页 |
·节气门抗扰度测试试验 | 第51-56页 |
·其它电子设备干扰及损伤阈值测试 | 第56-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第5章 汽车电子设备损伤机理分析及系统化阈值测试方法 | 第58-66页 |
·电磁脉冲损伤机理分析及损伤阈值测试流程 | 第58-60页 |
·耦合途径及耦合能力分析 | 第60-62页 |
·试验测试方法 | 第62-65页 |
·本章总结 | 第65-66页 |
第6章 全文总结 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
致谢 | 第74-76页 |
导师及作者简介 | 第76页 |
硕士期间发表学术论文 | 第76页 |