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数控旧轨整形机总体与测控系统设计

摘要第1-7页
Abstract第7-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·工业控制的现状第11-14页
     ·概述第11页
     ·工控机控制第11-12页
     ·单片机控制第12-13页
     ·PLC控制第13-14页
     ·PLC与工控机共同控制第14页
   ·PLC通信技术第14-15页
     ·PLC与外部设备的通信第14-15页
     ·PLC与系统内部设备之间的通信第15页
   ·课题研究的背景、要求及意义第15-16页
   ·本文的工作和结构第16-17页
第二章 机床及测控系统概要第17-24页
   ·机床整体布局及功能第17-20页
     ·机床的整体布局第17-18页
     ·机床的各部分功能第18-19页
     ·机床的工作原理阐述第19-20页
   ·测控系统总体介绍第20-21页
     ·控制要求分析第20页
     ·测试内容和控制对象第20-21页
   ·各系统的测控方案第21-24页
     ·引入平台系统的测控方案第21-22页
     ·机床夹紧驱动系统的测控方案第22-24页
第三章 系统相关基础知识概要第24-39页
   ·PLC的基础知识第24-26页
     ·可编程控制器简介第24-25页
     ·PLC的结构第25页
     ·PLC的程序表达方式第25-26页
   ·CC-Link总线系统第26-33页
     ·CC-Link系统简介第26-27页
     ·CC-Link的特点第27页
     ·CC-Link的功能第27-28页
     ·CC-Link网络概要第28-30页
     ·CC-Link网络通信方式第30-32页
     ·CC-Link的设定与定义第32-33页
   ·传感器基础知识第33-39页
     ·传感器的作用及重要性第33-34页
     ·传感器的基本性能参数第34-36页
     ·光电开关第36-37页
     ·光电式传感器第37-39页
第四章 测控系统硬件及抗干扰设计第39-52页
   ·硬件选型第39-40页
   ·功能模块选型及介绍第40-44页
     ·FX0N-3A模拟特殊功能模块第40-41页
     ·光电传感器选型及介绍第41-42页
     ·光电开关的选型及介绍第42页
     ·CC-Link系统主站模块简介第42-43页
     ·I/O扩展模块第43-44页
   ·系统各部分连接组成第44-45页
   ·系统抗干扰设计第45-48页
     ·PLC外部的抗干扰措施第46-47页
     ·PLC自身抗干扰措施第47-48页
   ·PLC应用中其他应注意的问题第48-49页
   ·系统抗干扰接地设计第49-52页
第五章 测试系统软件设计第52-68页
   ·概述第52-56页
     ·PLC存储器第52-53页
     ·PLC的软件组成第53-54页
     ·编程语言与编程工具第54-55页
     ·控制系统软件设计内容第55-56页
   ·引入平台水平调整程序设计第56-62页
     ·编程工具软件与编程语言第56页
     ·I/O及内存分配第56-58页
     ·软件设计第58-62页
   ·铣削量控制程序设计第62-64页
     ·铣削量控制程序流程图第62-63页
     ·铣削量调整程序第63-64页
   ·PLC与远程I/O的通信程序设计第64-68页
     ·程序设计流程第64-65页
     ·主站设置程序第65-66页
     ·通讯程序设计第66-68页
结论与展望第68-69页
致谢第69-70页
参考文献第70-73页
附录第73-80页
攻读硕士学位期间发表论文及参加的科研项目第80-81页

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