| 中文摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第7-8页 |
| 1.2 X射线相衬成像 | 第8-14页 |
| 1.2.1 X射线干涉仪 | 第9-10页 |
| 1.2.2 衍射增强法 | 第10-11页 |
| 1.2.3 同轴X射线相衬成像 | 第11-12页 |
| 1.2.4 编码孔径同轴X射线相衬成像 | 第12-14页 |
| 1.3 X射线相衬成像的研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.1 同轴X射线相衬成像研究现状 | 第14页 |
| 1.3.2 编码孔径同轴X射线相衬成像研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.3 存在的主要问题 | 第15页 |
| 1.4 论文的主要研究内容及结构安排 | 第15-19页 |
| 第二章 同轴、编码孔径相衬成像的原理与质量评价参数 | 第19-31页 |
| 2.1 同轴相衬成像的数值模拟模型 | 第19-27页 |
| 2.1.1 物体的数值模拟模型 | 第19-21页 |
| 2.1.2 光源的空间相干性 | 第21页 |
| 2.1.3 惠更斯-菲涅尔定理 | 第21-22页 |
| 2.1.4 菲涅尔-基尔霍夫衍射定理 | 第22-25页 |
| 2.1.5 菲涅尔-基尔霍夫衍射积分及简化 | 第25-27页 |
| 2.2 编码孔径同轴相衬成像原理 | 第27-28页 |
| 2.3 质量评价参数 | 第28-31页 |
| 2.3.1 对比度 | 第28-29页 |
| 2.3.2 调制传递函数 | 第29-31页 |
| 第三章 微焦点源相衬成像系统 | 第31-41页 |
| 3.1 微焦点源相衬成像模拟系统 | 第31-34页 |
| 3.1.1 成像系统的点扩散函数及影响 | 第31-32页 |
| 3.1.2 微焦点源尺寸 | 第32-33页 |
| 3.1.3 光源与探测器模型 | 第33-34页 |
| 3.2 数值模拟的方法和流程 | 第34-36页 |
| 3.3 同轴相衬成像系统成像质量的定量评估 | 第36-41页 |
| 3.3.1 利用圆柱形仿体测量模拟系统的MTF | 第36-37页 |
| 3.3.2 实验说明与准备 | 第37-38页 |
| 3.3.3 实验结果分析与讨论 | 第38-41页 |
| 第四章 提高相衬成像可见度的滤波方法 | 第41-57页 |
| 4.1 噪声模型 | 第42-46页 |
| 4.1.1 噪声概率密度函数 | 第42-44页 |
| 4.1.2 相衬成像系统的噪声分析 | 第44-46页 |
| 4.2 系统点扩散函数测量 | 第46-47页 |
| 4.3 维纳滤波与小波维纳滤波 | 第47-51页 |
| 4.3.1 维纳滤波 | 第48-49页 |
| 4.3.2 小波维纳滤波 | 第49-51页 |
| 4.4 滤波结果的验证与比较 | 第51-57页 |
| 4.4.1 数值模拟验证与比较 | 第51-54页 |
| 4.4.2 实验验证与比较 | 第54-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 本文总结 | 第57页 |
| 5.2 对X射线相衬成像研究工作的展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65页 |