高精度锁相环抖动测量电路的研究与设计
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
专用术语注释表 | 第8-9页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 锁相环测试的研究意义 | 第9-10页 |
1.2 研究现状 | 第10-11页 |
1.3 设计指标与论文主要工作 | 第11-13页 |
1.4 论文结构 | 第13-15页 |
第二章 高精度锁相环抖动测量电路综述 | 第15-27页 |
2.1 锁相环分析 | 第15-17页 |
2.1.1 锁相环的结构 | 第15-16页 |
2.1.2 锁相环主要参数分析 | 第16页 |
2.1.3 锁相环故障模型分析 | 第16-17页 |
2.2 锁相环抖动分析 | 第17-21页 |
2.2.1 抖动的分类 | 第17-19页 |
2.2.2 抖动的描述方式 | 第19-20页 |
2.2.3 抖动产生的原因 | 第20-21页 |
2.3 高精度锁相环抖动测量电路研究综述 | 第21-26页 |
2.3.1 基于环形振荡器的抖动测量电路 | 第21-22页 |
2.3.2 基于时间放大器的抖动测量电路 | 第22-23页 |
2.3.3 基于游标延时链的抖动测量电路 | 第23-25页 |
2.3.4 基于欠采样的抖动测量电路 | 第25-26页 |
2.3.5 其他方法及总结 | 第26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 高精度锁相环抖动测量电路设计 | 第27-43页 |
3.1 基于欠采样抖动测量电路 | 第27-32页 |
3.1.1 基于欠采样的抖动测量原理 | 第27-30页 |
3.1.2 基于边沿对齐的抖动提取技术 | 第30-31页 |
3.1.3 高精度欠采样抖动测量电路框图 | 第31-32页 |
3.2 周期抖动测量电路 | 第32-37页 |
3.2.1 高频抖动分析 | 第32-33页 |
3.2.2 互采样技术 | 第33-34页 |
3.2.3 周期抖动测量电路分析 | 第34-37页 |
3.3 长周期抖动测量电路 | 第37-42页 |
3.3.1 长周期抖动分析 | 第37页 |
3.3.2 插值采样器 | 第37-38页 |
3.3.3 长周期抖动测量电路分析 | 第38-42页 |
3.4 本章小结 | 第42-43页 |
第四章 高精度锁相环抖动测量电路仿真及验证 | 第43-60页 |
4.1 电路仿真环境及流程 | 第43-45页 |
4.1.1 仿真环境 | 第43-44页 |
4.1.2 版图实现 | 第44-45页 |
4.2 周期抖动测量电路仿真与分析 | 第45-51页 |
4.2.1 周期抖动测量电路功能验证与分析 | 第45-47页 |
4.2.2 周期抖动测量电路后仿真与分析 | 第47-51页 |
4.3 长周期抖动测量电路仿真与分析 | 第51-59页 |
4.3.1 长周期抖动测量电路功能验证与分析 | 第51-53页 |
4.3.2 长周期抖动测量电路后仿真与分析 | 第53-58页 |
4.3.3 对比分析 | 第58-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
5.1 总结 | 第60-61页 |
5.2 展望 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第66-67页 |
致谢 | 第67页 |