嵌入式软件覆盖测试的插桩技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-15页 |
| ·研究背景及意义 | 第12-13页 |
| ·论文研究内容及目标 | 第13-14页 |
| ·论文创新点 | 第14页 |
| ·论文结构安排 | 第14-15页 |
| 第二章 嵌入式软件覆盖测试理论 | 第15-25页 |
| ·嵌入式系统及嵌入式软件 | 第15-17页 |
| ·嵌入式系统 | 第15-16页 |
| ·嵌入式软件 | 第16-17页 |
| ·软件测试 | 第17-24页 |
| ·软件测试概述 | 第17-18页 |
| ·嵌入式软件测试 | 第18-19页 |
| ·嵌入式软件测试的分类 | 第19-21页 |
| ·覆盖测试的流程 | 第21-22页 |
| ·覆盖测试的代码插桩 | 第22-23页 |
| ·覆盖测试的代码覆盖分析 | 第23页 |
| ·嵌入式软件覆盖测试 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 嵌入式软件覆盖测试插桩技术的研究 | 第25-30页 |
| ·覆盖测试的插桩技术 | 第25-26页 |
| ·插桩技术的介绍 | 第25页 |
| ·插桩技术的重要性 | 第25-26页 |
| ·覆盖测试中插桩问题 | 第26页 |
| ·代码膨胀问题 | 第26页 |
| ·程序执行效率问题 | 第26页 |
| ·插桩技术问题的解决方法 | 第26-29页 |
| ·测试需求精简 | 第26-28页 |
| ·精简测试用例 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 插桩技术的优化算法 | 第30-50页 |
| ·超块支配图算法 | 第30-37页 |
| ·控制流程图相关概念 | 第30-33页 |
| ·超块支配图求解方法 | 第33-37页 |
| ·最小核心集算法 | 第37-42页 |
| ·最小核心集的定义及定理 | 第37-38页 |
| ·最小核心集的求解方法 | 第38-42页 |
| ·广义后继支配图算法 | 第42-45页 |
| ·广义支配图的定义 | 第42页 |
| ·广义后继支配图算法 | 第42-45页 |
| ·虚拟结点法 | 第45-49页 |
| ·插桩开销问题 | 第45-46页 |
| ·虚拟结点法 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 插桩技术优化算法在gcc 中的实现 | 第50-66页 |
| ·嵌入式软件的覆盖测试环境 | 第50-53页 |
| ·嵌入式仿真环境SkyEye | 第50页 |
| ·SkyEye 模拟硬件介绍 | 第50-51页 |
| ·通信连接方式 | 第51-52页 |
| ·数据传输 | 第52-53页 |
| ·测试环境搭建 | 第53页 |
| ·嵌入式软件覆盖测试工具 | 第53-55页 |
| ·gcc 工作原理 | 第53-54页 |
| ·gcov 工作原理 | 第54-55页 |
| ·插桩技术的优化算法在gcc 中的实现 | 第55-65页 |
| ·最小核心集算法 | 第55-59页 |
| ·虚拟结点算法 | 第59-61页 |
| ·gcov 给出覆盖率 | 第61-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第72页 |
