| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 N型高效单晶硅电池的优势 | 第11-12页 |
| 1.3 少子寿命对晶硅电池效率的影响 | 第12-13页 |
| 1.4 高效单晶硅电池技术发展现状 | 第13-21页 |
| 1.4.1 N型高效单晶硅电池技术 | 第14-17页 |
| 1.4.2 高效率PERC电池 | 第17-21页 |
| 1.5 N型高效单晶硅电池发展遇到的问题及瓶颈 | 第21-22页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第二章 实验方案及表征方法 | 第24-32页 |
| 2.1 实验方案 | 第24-25页 |
| 2.2 主要测试分析方法 | 第25-32页 |
| 2.2.1 单晶硅的主要参数测试方法 | 第25-27页 |
| 2.2.1.1 傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR) | 第25-26页 |
| 2.2.1.2 电阻率测试仪 | 第26页 |
| 2.2.1.3 少子寿命测试仪 | 第26-27页 |
| 2.2.2 晶硅电池的主要性能测试方法 | 第27-32页 |
| 2.2.2.1 紫外-可见-近红外分光光度计(UV-Vis-NIR) | 第27页 |
| 2.2.2.2 光致发光测试仪(PL) | 第27-28页 |
| 2.2.2.3 电材学电容电压测试仪(ECV) | 第28-29页 |
| 2.2.2.4 电流-电压(I-V)特性曲线测试仪 | 第29页 |
| 2.2.2.5 电致发光测试仪(EL) | 第29-30页 |
| 2.2.2.6 量子效率测试仪(QE) | 第30-32页 |
| 第三章 高寿命N型单晶硅的制备与性能 | 第32-46页 |
| 3.1 引言 | 第32-33页 |
| 3.2 N型单晶硅生长的数值模拟 | 第33-40页 |
| 3.2.1 模拟过程 | 第33-35页 |
| 3.2.2 氩气流速对N型单晶硅生长的影响 | 第35-40页 |
| 3.3 N型单晶硅的制备材性能 | 第40-44页 |
| 3.3.1 实验过程 | 第40页 |
| 3.3.2 N型单晶硅的性能 | 第40-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 单晶硅少子寿命对N-PERC电池效率的影响 | 第46-64页 |
| 4.1 引言 | 第46-47页 |
| 4.2 N-PERC电池的数值模拟 | 第47-52页 |
| 4.2.1 模拟过程 | 第47-48页 |
| 4.2.2 N型单晶硅电池性能的模拟分析 | 第48-52页 |
| 4.3 N-PERC电池的制备材性能 | 第52-60页 |
| 4.3.1 实验过程 | 第52-54页 |
| 4.3.2 少子寿命对电池性能的影响 | 第54-60页 |
| 4.4 少子寿命不均匀度对电池效率的影响 | 第60-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
