四探针STM分时复用控制系统研制及石墨烯电子学特性研究
摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第14-42页 |
1.1 四探针扫描隧道显微镜概述 | 第14-26页 |
1.1.1 四探针STM的发展及应用 | 第14-20页 |
1.1.2 电阻率与四端法测量技术 | 第20-26页 |
1.2 石墨烯的结构与性质 | 第26-36页 |
1.2.1 物理性质 | 第26-28页 |
1.2.2 电子特性 | 第28-36页 |
1.3 石墨烯的制备与表征 | 第36-41页 |
1.3.1 石墨烯的制备 | 第36-39页 |
1.3.2 石墨烯的表征 | 第39-41页 |
1.4 本论文研究内容与意义 | 第41-42页 |
第2章 四探针扫描隧道显微镜成像性能的深度优化 | 第42-68页 |
2.1 研究背景 | 第42-44页 |
2.2 优化过程与结果 | 第44-67页 |
2.2.1 电学噪声的优化 | 第45-51页 |
2.2.2 机械噪声的优化 | 第51-64页 |
2.2.3 标准样品的选择 | 第64-65页 |
2.2.4 针尖的原位处理 | 第65-67页 |
2.3 本章小结 | 第67-68页 |
第3章 分时复用的四探针扫描隧道显微镜控制系统 | 第68-96页 |
3.1 研究背景 | 第68-69页 |
3.2 解决方案 | 第69-74页 |
3.3 硬件设计 | 第74-81页 |
3.3.1 主控制单元 | 第75-77页 |
3.3.2 粗进针切换单元 | 第77-78页 |
3.3.3 扫描管切换单元 | 第78-80页 |
3.3.4 前置放大器与针尖切换单元 | 第80-81页 |
3.4 软件设计 | 第81-85页 |
3.5 测试结果 | 第85-94页 |
3.6 本章小结 | 第94-96页 |
第4章 基底几何形貌对石墨烯赝自旋的调控 | 第96-106页 |
4.1 研究背景 | 第96-97页 |
4.2 实验结果与讨论 | 第97-105页 |
4.3 本章小结 | 第105-106页 |
第5章 总结与展望 | 第106-108页 |
参考文献 | 第108-120页 |
个人简历 | 第120-122页 |
发表文章目录 | 第122页 |
已获得专利 | 第122-124页 |
致谢 | 第124-125页 |