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四探针STM分时复用控制系统研制及石墨烯电子学特性研究

摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第1章 绪论第14-42页
    1.1 四探针扫描隧道显微镜概述第14-26页
        1.1.1 四探针STM的发展及应用第14-20页
        1.1.2 电阻率与四端法测量技术第20-26页
    1.2 石墨烯的结构与性质第26-36页
        1.2.1 物理性质第26-28页
        1.2.2 电子特性第28-36页
    1.3 石墨烯的制备与表征第36-41页
        1.3.1 石墨烯的制备第36-39页
        1.3.2 石墨烯的表征第39-41页
    1.4 本论文研究内容与意义第41-42页
第2章 四探针扫描隧道显微镜成像性能的深度优化第42-68页
    2.1 研究背景第42-44页
    2.2 优化过程与结果第44-67页
        2.2.1 电学噪声的优化第45-51页
        2.2.2 机械噪声的优化第51-64页
        2.2.3 标准样品的选择第64-65页
        2.2.4 针尖的原位处理第65-67页
    2.3 本章小结第67-68页
第3章 分时复用的四探针扫描隧道显微镜控制系统第68-96页
    3.1 研究背景第68-69页
    3.2 解决方案第69-74页
    3.3 硬件设计第74-81页
        3.3.1 主控制单元第75-77页
        3.3.2 粗进针切换单元第77-78页
        3.3.3 扫描管切换单元第78-80页
        3.3.4 前置放大器与针尖切换单元第80-81页
    3.4 软件设计第81-85页
    3.5 测试结果第85-94页
    3.6 本章小结第94-96页
第4章 基底几何形貌对石墨烯赝自旋的调控第96-106页
    4.1 研究背景第96-97页
    4.2 实验结果与讨论第97-105页
    4.3 本章小结第105-106页
第5章 总结与展望第106-108页
参考文献第108-120页
个人简历第120-122页
发表文章目录第122页
已获得专利第122-124页
致谢第124-125页

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