| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第13-29页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第13-17页 |
| 1.2 基于MCP及位敏阳极的光子计数成像探测器基础 | 第17-26页 |
| 1.2.1 光电阴极 | 第17-19页 |
| 1.2.2 微通道板 | 第19-22页 |
| 1.2.3 位敏灵敏阳极 | 第22-26页 |
| 1.3 课题来源、研究目的及研究内容 | 第26-29页 |
| 第2章 远紫外感应电荷楔条形阳极密封管探测器的研制 | 第29-67页 |
| 2.1 输入窗口材料的选取 | 第30-31页 |
| 2.2 光阴极材料的选取与制备 | 第31-33页 |
| 2.2.1 光阴极材料的选取 | 第31-32页 |
| 2.2.2 光阴极的制备 | 第32-33页 |
| 2.3 MCP的选取与预处理 | 第33-35页 |
| 2.4 电荷感应层及衬底的选取 | 第35-38页 |
| 2.5 WSA的优化和制备 | 第38-53页 |
| 2.5.1 WSA极间电容的优化 | 第40-51页 |
| 2.5.2 WSA的加工 | 第51-53页 |
| 2.6 探测器结构优化 | 第53-60页 |
| 2.6.1 电子云的优化 | 第53-58页 |
| 2.6.2 探测器结构的设计 | 第58-60页 |
| 2.7 电路读出系统的研制 | 第60-65页 |
| 2.7.1 电荷灵敏前置放大电路 | 第61-62页 |
| 2.7.2 滤波整形与峰值保持电路 | 第62-63页 |
| 2.7.3 数据采集系统 | 第63-65页 |
| 2.8 本章小结 | 第65-67页 |
| 第3章 远紫外密封管成像探测器性能检测 | 第67-83页 |
| 3.1 探测量子效率 | 第67-70页 |
| 3.1.1 MCP探测量子效率检测 | 第67-69页 |
| 3.1.2 CsI量子效率 | 第69-70页 |
| 3.2 增益 | 第70-71页 |
| 3.3 暗计数 | 第71-73页 |
| 3.3.1 MCP预处理对暗噪声的影响 | 第71-72页 |
| 3.3.2 探测器的暗计数 | 第72-73页 |
| 3.4 空间分辨率 | 第73-76页 |
| 3.4.1 探测器空间分辨率与整形时间的理论关系 | 第73-74页 |
| 3.4.2 探测器空间分辨率与整形时间的实验探究 | 第74-76页 |
| 3.5 最高计数率 | 第76-79页 |
| 3.5.1 探测器计数率与整形时间的理论关系 | 第76-78页 |
| 3.5.2 探测器计数率与整形时间关系的实验探究 | 第78-79页 |
| 3.6 探测器的图像线性测量 | 第79-81页 |
| 3.7 本章小结 | 第81-83页 |
| 第4章 Vernier阳极理论研究 | 第83-121页 |
| 4.1 引言 | 第83页 |
| 4.2 Vernier阳极概述 | 第83-94页 |
| 4.2.1 Vernier阳极结构 | 第83-87页 |
| 4.2.2 Vernier阳极的设计原理 | 第87-92页 |
| 4.2.3 Vernier阳极的解码算法 | 第92-94页 |
| 4.3 Vernier阳极的成像线性 | 第94-105页 |
| 4.3.1 Vernier阳极的解码算法的修正 | 第94-98页 |
| 4.3.2 Vernier阳极成像线性模拟 | 第98-105页 |
| 4.4 Vernier阳极的空间分辨率理论 | 第105-118页 |
| 4.4.1 Vernier阳极分割噪声 | 第107-112页 |
| 4.4.2 Vernier阳极电子噪声 | 第112-118页 |
| 4.5 Vernier阳极的结构优化 | 第118-119页 |
| 4.6 本章小结 | 第119-121页 |
| 第5章 总结与展望 | 第121-125页 |
| 5.1 全文总结 | 第121-123页 |
| 5.2 工作展望 | 第123-125页 |
| 参考文献 | 第125-133页 |
| 致谢 | 第133-135页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第135-136页 |