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磁控溅射法制备M型钡铁氧体薄膜工艺及性能研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-21页
    1.1 铁氧体材料的微波应用第10页
    1.2 铁氧体材料分类第10-12页
        1.2.1 尖晶石铁氧体第10-11页
        1.2.2 石榴石铁氧体第11页
        1.2.3 磁铅石铁氧体第11-12页
    1.3 M型钡铁氧体(BaM)的结构和性能第12-14页
        1.3.1 BaM铁氧体晶体结构第12-13页
        1.3.2 绝对零度下BaM铁氧体的理论饱和磁化强度计算第13-14页
    1.4 BaM材料的毫米波应用第14-15页
    1.5 BaM铁氧体薄膜的研究现状第15-17页
    1.6 发展态势第17页
    1.7 磁控溅射法制备BaM材料第17-19页
    1.8 论文主要内容及结构安排第19-21页
第二章 磁控溅射法制备M型钡铁氧体薄膜第21-37页
    2.1 M型钡铁氧体薄膜制备及性能表征第21-25页
        2.1.1 X射线衍射仪(XRD)第21-23页
        2.1.2 场发射扫描电镜(FESEM)第23-24页
        2.1.3 振动样品磁强计(VSM)第24-25页
    2.2 衬底温度对BaM薄膜性能的影响第25-29页
        2.2.1 BaM薄膜的制备工艺第25页
        2.2.2 衬底温度对薄膜晶体结构的影响第25-28页
        2.2.3 衬底温度对BaM薄膜磁性能的影响第28-29页
    2.3 溅射气压对BaM薄膜性能的影响第29-33页
        2.3.1 BaM薄膜的制备工艺第29-30页
        2.3.2 不同溅射气压对BaM薄膜晶体结构的影响第30-31页
        2.3.3 不同溅射气压对BaM薄膜磁性能的影响第31-33页
    2.4 退火温度对BaM膜性能的影响第33-36页
        2.4.1 BaM薄膜的制备工艺第33-34页
        2.4.2 不同退火温度对BaM薄膜晶体结构的影响第34-35页
        2.4.3 不同退火温度对BaM薄膜磁性能的影响第35-36页
    2.5 本章小结第36-37页
第三章 薄膜厚度对BaM薄膜性能的影响第37-45页
    3.1 BaM薄膜的制备工艺第37-38页
    3.2 不同厚度对BaM薄膜晶体结构的影响第38-41页
    3.3 不同厚度对BaM薄膜磁性能的影响第41-43页
    3.4 本章小结第43-45页
第四章 分层溅射法制备双层M型钡铁氧体薄膜第45-56页
    4.1 双层M型钡铁氧体薄膜的制备第46-48页
    4.2 M型钡铁氧体薄膜的晶体结构比较第48-51页
    4.3 M型钡铁氧体薄膜的磁性能比较第51-52页
    4.4 M型钡铁氧体薄膜的应力分析第52-55页
        4.4.1 XRD衍射法分析薄膜应力第52-53页
        4.4.2 曲率半径法分析薄膜应力第53-55页
    4.5 本章小结第55-56页
第五章 三层M型钡铁氧体薄膜研究第56-60页
    5.1 三层M型钡铁氧体薄膜的制备第56-57页
    5.2 M型钡铁氧体薄膜的晶体结构比较第57-59页
    5.3 本章小结第59-60页
第六章 结论第60-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-65页
攻读硕士学位期间取得的成果第65-66页

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