噪声温度计中低噪声低失真前置放大器研制
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第9-13页 |
| 1.1.1 噪声温度计原理 | 第10-11页 |
| 1.1.2 性能提升研究 | 第11-13页 |
| 1.2 噪声温度计国内外发展现状 | 第13-15页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 放大器低噪声设计 | 第17-32页 |
| 2.1 电子系统内部的固有噪声源 | 第17-18页 |
| 2.1.1 电阻的热噪声 | 第17-18页 |
| 2.1.2 PN结的散粒噪声 | 第18页 |
| 2.1.3 1/f噪声 | 第18页 |
| 2.1.4 爆裂噪声 | 第18页 |
| 2.2 放大器噪声模型 | 第18-19页 |
| 2.3 晶体管和场效应管的噪声特性 | 第19-22页 |
| 2.3.1 晶体管(BJT)噪声特性 | 第19-20页 |
| 2.3.2 结型场效应管(JFET)噪声特性 | 第20-22页 |
| 2.4 低噪声放大器结构设计 | 第22-31页 |
| 2.4.1 差分电路 | 第22-23页 |
| 2.4.2 共源共基结构(Cascode) | 第23-27页 |
| 2.4.3 电流源设计 | 第27-28页 |
| 2.4.4 低噪声偏置电路 | 第28-30页 |
| 2.4.5 反馈电路的影响 | 第30-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 放大器失真分析及对策 | 第32-43页 |
| 3.1 线性失真 | 第32-33页 |
| 3.2 非线性失真 | 第33-39页 |
| 3.2.1 放大器固有的非线性 | 第33-34页 |
| 3.2.2 谐波失真和交调失真 | 第34-36页 |
| 3.2.3 非线性失真来源 | 第36-39页 |
| 3.3 场效应管参数测量 | 第39-42页 |
| 3.3.1 JFET参数测量仪 | 第39-40页 |
| 3.3.2 IF9030测量 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 放大器研制及性能测试 | 第43-62页 |
| 4.1 放大器研制 | 第43-46页 |
| 4.1.1 前置放大器电路 | 第43-44页 |
| 4.1.2 合理选择低噪声电子元器件 | 第44-45页 |
| 4.1.3 放大器硬件电路 | 第45-46页 |
| 4.2 放大器性能指标测量 | 第46-61页 |
| 4.2.1 电压增益和背景噪声测量 | 第46-48页 |
| 4.2.2 带宽测量 | 第48-50页 |
| 4.2.3 共模抑制比测量 | 第50-52页 |
| 4.2.4 非线性测量 | 第52-59页 |
| 4.2.5 放大器性能对比 | 第59-61页 |
| 4.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 作者简介 | 第68页 |
