| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第7-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8页 |
| 1.3 研究方法和技术路线 | 第8-9页 |
| 1.4 理论基础简介 | 第9-19页 |
| 1.4.1 变点简介 | 第9-15页 |
| 1.4.2 长记忆序列简介 | 第15-17页 |
| 1.4.3 单位根检验简介 | 第17-19页 |
| 1.5 本文内容安排 | 第19-21页 |
| 2 长记忆序列下方差变点对单位根检验的影响 | 第21-32页 |
| 2.1 模型和引理 | 第21-22页 |
| 2.2 主要结论 | 第22-25页 |
| 2.3 数值模拟 | 第25-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 3 长记忆序列下均值变点对方差变点检验的影响 | 第32-47页 |
| 3.1 模型和引理 | 第32-33页 |
| 3.2 主要结论 | 第33-41页 |
| 3.3 数值模拟 | 第41-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 4 结论与展望 | 第47-49页 |
| 4.1 结论 | 第47页 |
| 4.2 展望 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 附录 | 第54页 |