| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-15页 |
| 第一章 引言 | 第15-34页 |
| ·研究背景 | 第15-32页 |
| ·Herring(faceting)理论 | 第19-21页 |
| ·晶体表面的形成 | 第21-32页 |
| ·表面张力和表面重构 | 第21-28页 |
| ·表面重构和表面结构相变 | 第28-30页 |
| ·电致迁移对表面重构的影响 | 第30-32页 |
| ·研究的目的及意义 | 第32-34页 |
| 第二章 扫描隧道显微镜(STM)原理及实验方法 | 第34-40页 |
| ·扫描隧道显微镜的原理与应用 | 第34-37页 |
| ·实验方法 | 第37-40页 |
| 第三章 Si(5 5 12)的表面观察 | 第40-57页 |
| ·Si(5 5 12)样品表面上观察到的各种小面 | 第40-42页 |
| ·从Si(1 1 3)小面到Si(5 5 12)小面 | 第42-43页 |
| ·从Si(1 1 3)小面到Si(7 7 17)小面 | 第43-44页 |
| ·从Si(5 5 12)小面到Si(7 7 17)小面 | 第44-48页 |
| ·从Si(5 5 12)小面到Si(3 3 7)小面 | 第48-49页 |
| ·从Si(3 3 7)小面到Si(1 1 2)小面[或Si(1 1 1)小面] | 第49-53页 |
| ·Si(1 1 2)小面[或Si(3 3 7)小面]和Si(1 1 1)小面 | 第53-57页 |
| 第四章 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录(攻读学位期间发表论文目录) | 第64页 |
