利用同轴电子全息对电荷分布的定量表征
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 电子全息术的基本原理及发展情况 | 第11-17页 |
| 1.2.1 离轴电子全息术 | 第13-14页 |
| 1.2.2 同轴电子全息术 | 第14-17页 |
| 1.3 本文研究意义和内容 | 第17-19页 |
| 第二章 实验内容与测试方法 | 第19-29页 |
| 2.1 实验试剂和仪器方法 | 第19-20页 |
| 2.2 基本原理与算法简介 | 第20-29页 |
| 2.2.1 全息像的基本原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 相位恢复迭代算法的基本原理与应用 | 第21-22页 |
| 2.2.3 电荷计算模型 | 第22-23页 |
| 2.2.4 由相位恢复电荷的基本原理与算法 | 第23-24页 |
| 2.2.5 退火法的基本原理与应用 | 第24-27页 |
| 2.2.6 振幅恢复电荷 | 第27-29页 |
| 第三章 碳化硅纳米线中的电荷表征 | 第29-38页 |
| 3.1 电子波函数的相位重构 | 第29-30页 |
| 3.2 从相位中提取电势及电荷分布信息 | 第30-32页 |
| 3.3 电荷密度分布准确性的验证 | 第32-35页 |
| 3.4 碳化硅-小颗粒体系的电荷分布 | 第35-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 电荷分布的原位动态表征 | 第38-48页 |
| 4.1 高温下碳化硅纳米线中电荷的重新分布 | 第38-39页 |
| 4.2 高温下碳化硅纳米线尖端电荷的演变 | 第39-42页 |
| 4.3 不同偏压下纳米线中电荷分布表征 | 第42-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 纳米线的电导率表征与计算 | 第48-53页 |
| 5.1 银与碳化硅纳米线的导电性鉴别 | 第48-50页 |
| 5.2 碳化硅纳米线的电导率计算 | 第50-51页 |
| 5.3 本章小结 | 第51-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 个人简历 | 第60-61页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第61页 |
