中文摘要 | 第3-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 研究目标及主要工作 | 第12-14页 |
1.2.1 研究目标及框架 | 第12-13页 |
1.2.2 主要研究工作及不同点 | 第13-14页 |
1.3 研究贡献及组织安排 | 第14-17页 |
1.3.1 研究贡献 | 第14-15页 |
1.3.2 组织安排 | 第15-17页 |
第2章 相关研究工作 | 第17-27页 |
2.1 相关术语 | 第17-19页 |
2.2 克隆代码对软件的影响 | 第19-20页 |
2.2.1 积极影响 | 第19页 |
2.2.2 消极影响 | 第19-20页 |
2.3 国内外研究现状 | 第20-26页 |
2.3.1 克隆检测 | 第20-21页 |
2.3.2 克隆映射 | 第21-23页 |
2.3.3 克隆演化 | 第23-24页 |
2.3.4 克隆缺陷 | 第24-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 克隆映射及克隆代码缺陷标识 | 第27-35页 |
3.1 研究方法概述 | 第27-28页 |
3.2 获取克隆检测结果 | 第28-29页 |
3.3 相邻版本间克隆映射 | 第29-32页 |
3.4 克隆代码缺陷标识 | 第32-34页 |
3.5 本章小结 | 第34-35页 |
第4章 基于克隆突变及克隆迁移的代码缺陷可能性分析 | 第35-45页 |
4.1 克隆突变及克隆迁移研究框架 | 第35页 |
4.2 软件演化过程中克隆突变及克隆迁移的识别 | 第35-42页 |
4.2.1 克隆突变的识别 | 第36-39页 |
4.2.2 克隆迁移的识别 | 第39-42页 |
4.3 克隆突变及克隆迁移缺陷可能性分析 | 第42-44页 |
4.3.1 统计解释模型 | 第42-43页 |
4.3.2 基于克隆突变的缺陷可能性分析 | 第43页 |
4.3.3 基于克隆迁移的缺陷可能性分析 | 第43-44页 |
4.4 本章小结 | 第44-45页 |
第5章 实验结果及分析 | 第45-57页 |
5.1 实验环境及数据集 | 第45-46页 |
5.1.1 实验环境 | 第45页 |
5.1.2 数据集选取 | 第45-46页 |
5.2 克隆突变及克隆迁移的识别实验 | 第46-53页 |
5.2.1 实验评价 | 第46-47页 |
5.2.2 克隆突变及克隆迁移的识别实验结果及分析 | 第47-53页 |
5.3 克隆突变及克隆迁移缺陷可能性分析实验 | 第53-57页 |
5.3.1 克隆突变缺陷可能性分析实验 | 第53-56页 |
5.3.2 克隆迁移缺陷可能性分析实验 | 第56-57页 |
第6章 总结与展望 | 第57-59页 |
6.1 总结 | 第57页 |
6.2 展望 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-63页 |
附录1 软件资源列表 | 第63-64页 |
附录2 卡方检验临界值表 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
攻读学位期间发表的论文及参与的项目 | 第66页 |