| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 超声相控阵检测技术研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12页 |
| 1.3 超声缺陷检测信号处理研究现状 | 第12-14页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 超声相控阵缺陷检测原理 | 第16-26页 |
| 2.1 相控阵发射及延迟法则计算 | 第16-21页 |
| 2.1.1 发射模型 | 第16-17页 |
| 2.1.2 声束偏转延迟法则计算 | 第17-19页 |
| 2.1.3 声束聚焦延迟法则计算 | 第19-21页 |
| 2.2 相控阵接收 | 第21-22页 |
| 2.3 超声缺陷检测成像技术 | 第22-25页 |
| 2.3.1 传统成像技术 | 第22-24页 |
| 2.3.2 特殊成像技术 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 超声信号采集与处理 | 第26-35页 |
| 3.1 超声信号采集系统设计 | 第26-28页 |
| 3.1.1 超声信号采集系统原理 | 第26-27页 |
| 3.1.2 Nios Ⅱ系统开发流程 | 第27-28页 |
| 3.2 超声数据采集控制模块的实现 | 第28-32页 |
| 3.2.1 数模转换器控制 | 第28-30页 |
| 3.2.2 USB接口控制 | 第30-32页 |
| 3.2.3 FIFO数据读写 | 第32页 |
| 3.3 Nios Ⅱ系统软件设计 | 第32-33页 |
| 3.4 超声数据采集系统测试 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 全矩阵捕获及全聚焦成像算法研究 | 第35-55页 |
| 4.1 FMC及其信号处理方法 | 第35-39页 |
| 4.1.1 FMC原理 | 第35-36页 |
| 4.1.2 全矩阵数据成像方法 | 第36-39页 |
| 4.1.3 TFM缺陷评价定量分析 | 第39页 |
| 4.2 FMC仿真 | 第39-44页 |
| 4.2.1 相控阵超声信号的反射原理 | 第39-41页 |
| 4.2.2 超声相控阵缺陷检测仿真 | 第41-44页 |
| 4.2.3 希尔伯特（Hilbert）变换及其应用 | 第44页 |
| 4.3 TFM的仿真验证 | 第44-45页 |
| 4.4 FMC/TFM实验验证 | 第45-52页 |
| 4.4.1 Multi2000超声相控阵探伤仪 | 第45-48页 |
| 4.4.2 相控仪器的数据提取方法 | 第48页 |
| 4.4.3 TFM实验验证 | 第48-52页 |
| 4.5 缺陷定量评价分析 | 第52-54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 分形理论在超声相控阵近表面缺陷检测中的应用 | 第55-67页 |
| 5.1 引言 | 第55-56页 |
| 5.2 分形理论 | 第56-59页 |
| 5.2.1 分形特征与分形维数 | 第57-58页 |
| 5.2.2 分形与超声信号处理 | 第58-59页 |
| 5.3 近表面缺陷相控阵超声检测 | 第59-62页 |
| 5.3.1 超声缺陷回波信号基本模型 | 第59-60页 |
| 5.3.2 近表面缺陷信号获取 | 第60页 |
| 5.3.3 近表面信号分析 | 第60-62页 |
| 5.4 缺陷信号分形特征提取与识别 | 第62-66页 |
| 5.4.1 A-Scan信号的盒维数计算 | 第62-64页 |
| 5.4.2 盒维数统计与缺陷识别 | 第64-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 全文总结 | 第67-68页 |
| 6.2 展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |