SAR场景欺骗干扰方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 欺骗干扰技术研究动态 | 第12页 |
| 1.3 纹理合成技术研究动态 | 第12-14页 |
| 1.4 论文主要研究内容安排 | 第14-15页 |
| 第二章 SAR图像特征及欺骗干扰原理 | 第15-28页 |
| 2.1 SAR基本原理 | 第15-16页 |
| 2.1.1 SAR回波信号模型 | 第15-16页 |
| 2.1.2 SAR的成像原理 | 第16页 |
| 2.2 SAR图像基本特性分析 | 第16-20页 |
| 2.2.1 SAR图像相干斑原理 | 第17-18页 |
| 2.2.2 SAR图像相干斑模型 | 第18-20页 |
| 2.3 高分辨SAR图像特征分析 | 第20-22页 |
| 2.3.1 纹理特征 | 第20页 |
| 2.3.2 几何特征 | 第20-21页 |
| 2.3.3 散射中心特征 | 第21-22页 |
| 2.4 SAR欺骗干扰机理 | 第22-25页 |
| 2.4.1 SAR欺骗干扰的几何模型 | 第22-23页 |
| 2.4.2 SAR欺骗干扰原理 | 第23-24页 |
| 2.4.3 SAR欺骗干扰仿真 | 第24-25页 |
| 2.5 SAR欺骗干扰的优势和难点 | 第25-27页 |
| 2.5.1 不同干扰模式的比较 | 第25-26页 |
| 2.5.2 SAR场景欺骗干扰的难点 | 第26-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 高分辨SAR场景统计分布模型分析 | 第28-41页 |
| 3.1 高分辨SAR场景统计模型 | 第28-33页 |
| 3.1.1 瑞利（Rayleigh）分布 | 第28-29页 |
| 3.1.2 对数正态(Lognormal)分布 | 第29-30页 |
| 3.1.3 韦布尔（Weibull）分布 | 第30-31页 |
| 3.1.4 K分布 | 第31-32页 |
| 3.1.5 Gamma分布 | 第32-33页 |
| 3.2 SAR图像统计分布模型参数估计方法 | 第33-35页 |
| 3.3 分布模型的拟合检验准则 | 第35-36页 |
| 3.4 SAR场景的统计拟合及再现 | 第36-40页 |
| 3.4.1 典型SAR场景的统计拟合实验 | 第36-39页 |
| 3.4.2 根据统计模型的场景再现 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 高分辨SAR场景及虚假目标生成 | 第41-61页 |
| 4.1 高分辨SAR场景纹理生成技术研究 | 第41-53页 |
| 4.1.1 基于像素点的纹理生成算法 | 第42-45页 |
| 4.1.2 最佳邻域选取算法 | 第45-49页 |
| 4.1.3 基于块拼接的纹理合成算法 | 第49-52页 |
| 4.1.4 不同场景纹理合成实验 | 第52-53页 |
| 4.2 高分辨SAR场景虚假目标生成技术研究 | 第53-57页 |
| 4.2.1 散射中心模型 | 第53-54页 |
| 4.2.2 散射中心参数估计 | 第54-57页 |
| 4.3 高分辨SAR场景欺骗干扰方法 | 第57-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 SAR场景欺骗干扰参数误差分析 | 第61-75页 |
| 5.1 中心频率误差对干扰效果的影响 | 第61-65页 |
| 5.2 调频斜率误差对干扰效果的影响 | 第65-70页 |
| 5.3 速度及多普勒斜率误差对干扰效果的影响 | 第70-73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 工作总结 | 第75-76页 |
| 6.2 工作展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
