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基于频谱的程序切片缺陷定位研究

摘要第3-4页
abstract第4-5页
1 绪论第8-12页
    1.1 课题研究的背景与意义第8页
    1.2 国内外研究现状第8-10页
        1.2.1 基于频谱的缺陷定位第8-9页
        1.2.2 基于程序切片的缺陷定位第9页
        1.2.3 缺陷怀疑度计算第9-10页
    1.3 本文研究内容第10页
    1.4 论文组织结构第10-12页
2 基于频谱的程序切片缺陷定位方法第12-14页
    2.1 缺陷定位方法框架第12-13页
    2.2 测试用例聚类第13页
    2.3 基于函数块粒度的程序切片第13页
    2.4 可疑度算法第13页
    2.5 本章小结第13-14页
3 测试用例聚类第14-20页
    3.1 聚类技术的选择第14-15页
        3.1.1 划分法第14页
        3.1.2 层次法第14-15页
    3.2 测试用例聚类算法第15-18页
        3.2.1 测试用例聚类步骤第15-16页
        3.2.2 执行路径矩阵化第16-18页
        3.2.3 相似系数的选取第18页
    3.3 测试用例聚类实现第18-19页
    3.4 本章小结第19-20页
4 程序切片生成缺陷函数集第20-26页
    4.1 构建函数崩溃表第20-21页
    4.2 程序切片算法第21-22页
    4.3 缺陷怀疑函数集生成第22-25页
    4.4 本章小结第25-26页
5 可疑度计算第26-34页
    5.1 传统的可疑度算法Tarantula第26-28页
    5.2 基于交叉表算法的可疑度计算第28-33页
        5.2.1 交叉表算法第28-32页
        5.2.2 交叉表算法和Tarantula算法之间的对比第32-33页
    5.3 本章小结第33-34页
6 实验与评测第34-46页
    6.1 实验平台及环境第34页
    6.2 实验数据说明第34页
    6.3 基于函数排名的评价方法第34-35页
    6.4 实验与评价第35-44页
        6.4.1 测试用例聚类第35-37页
        6.4.2 切片路径第37-42页
        6.4.3 缺陷定位算法之间的对比第42-44页
    6.5 本章小结第44-46页
7 总结和展望第46-48页
    7.1 论文的工作与总结第46页
    7.2 研究工作展望第46-48页
致谢第48-50页
参考文献第50-52页

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