| 目录 | 第2-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第6-13页 |
| 1.1 嵌入式存储器在现代VLSI中的重要地位 | 第6-7页 |
| 1.2 嵌入式存储器测试的意义和测试技术的发展 | 第7-8页 |
| 1.3 基于增益单元的嵌入式动态随机存储器 | 第8-10页 |
| 1.3.1 嵌入式动态随机存储器 | 第8页 |
| 1.3.2 基于增益单元的嵌入式动态随机存储器 | 第8-10页 |
| 1.4 增益单元eDRAM对测试的挑战及引入PBIST的必要性 | 第10-11页 |
| 1.5 论文主要工作和创新点 | 第11页 |
| 1.6 论文组织结构 | 第11-13页 |
| 第二章 增益单元存储器测试算法选择 | 第13-19页 |
| 2.1 已知故障模型举例 | 第13-15页 |
| 2.2 增益单元存储阵列中干扰的影响 | 第15-16页 |
| 2.3 增益单元存储器测试算法选择 | 第16-19页 |
| 2.3.1 March算法 | 第16-17页 |
| 2.3.2 Galpat算法 | 第17-18页 |
| 2.3.3 锤子测试 | 第18-19页 |
| 第三章 二级循环嵌套PBIST设计 | 第19-59页 |
| 3.1 设计目标 | 第19页 |
| 3.2 方案调研和确定 | 第19-21页 |
| 3.3 指令集设计 | 第21-28页 |
| 3.3.1 操作指令 | 第21-22页 |
| 3.3.2 配置指令 | 第22-25页 |
| 3.3.3 测试程序范例 | 第25-28页 |
| 3.4 系统框图 | 第28-30页 |
| 3.4.1 测试系统总体框图 | 第28-29页 |
| 3.4.2 PBIST结构 | 第29-30页 |
| 3.5 PBIST的存储器测试流程 | 第30-31页 |
| 3.6 系统模块设计 | 第31-52页 |
| 3.6.1 信号同步器 | 第31-32页 |
| 3.6.2 指令存储器 | 第32-33页 |
| 3.6.3 指令译码器 | 第33-43页 |
| 3.6.4 程序计数器 | 第43-44页 |
| 3.6.5 读写控制器 | 第44-45页 |
| 3.6.6 地址产生器 | 第45-47页 |
| 3.6.7 数据产生器 | 第47-49页 |
| 3.6.8 输出响应分析与诊断电路 | 第49-52页 |
| 3.7 PBIST功能验证 | 第52-54页 |
| 3.7.1 验证平台的搭建 | 第53页 |
| 3.7.2 功能验证过程和结果 | 第53-54页 |
| 3.8 芯片测试 | 第54-59页 |
| 3.8.1 ATE与待测芯片连接图 | 第55页 |
| 3.8.2 测试 | 第55-58页 |
| 3.8.3 结果分析 | 第58-59页 |
| 第四章 PBIST设计的优化和改进 | 第59-73页 |
| 4.1 工艺波动对存储器的影响 | 第59-60页 |
| 4.2 应对工艺波动的策略 | 第60-61页 |
| 4.3 新的测试需求 | 第61页 |
| 4.4 PBIST设计优化和改进 | 第61-70页 |
| 4.4.1 系统框图 | 第61-64页 |
| 4.4.2 指令集 | 第64-66页 |
| 4.4.3 时序方案自优化设计 | 第66-69页 |
| 4.4.4 数据保持时间测试 | 第69-70页 |
| 4.5 芯片测试 | 第70-73页 |
| 4.5.1 时序方案自优化功能测试 | 第71页 |
| 4.5.2 数据保持时间测试 | 第71-73页 |
| 第五章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 5.1 工作总结 | 第73-74页 |
| 5.2 展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |