| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 自卷曲微米管及相关器件的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文结构与安排 | 第13-15页 |
| 参考文献 | 第15-17页 |
| 第二章 微纳自卷曲相关理论 | 第17-25页 |
| 2.1 自卷曲基本原理 | 第17-19页 |
| 2.2 自卷曲微米管管径的理论计算 | 第19-20页 |
| 2.3 自卷曲微米管的制备技术 | 第20-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 参考文献 | 第24-25页 |
| 第三章 与纳米功能材料结合的Ⅲ-Ⅴ族自卷曲微米管制备 | 第25-36页 |
| 3.1 实验所用到的纳米功能材料 | 第25-26页 |
| 3.1.1 量子阱QW | 第25页 |
| 3.1.2 量子点QD | 第25-26页 |
| 3.1.3 金属纳米颗粒 | 第26页 |
| 3.1.4 荧光染料 | 第26页 |
| 3.2 制备与纳米功能材料结合的微米管所需实验装置 | 第26-28页 |
| 3.2.1 恒温水浴槽 | 第26-27页 |
| 3.2.2 磁控溅射 | 第27页 |
| 3.2.3 快速热退火 | 第27-28页 |
| 3.2.4 单通道推拉式注射泵 | 第28页 |
| 3.3 InGaAs/GaAs应变双层结构自卷曲微米管制备 | 第28-31页 |
| 3.3.1 Ⅲ-Ⅴ族半导体材料外延生长 | 第28-29页 |
| 3.3.2 GaAs基和Si基InGaAs/GaAs应变双层自卷曲微米管制备 | 第29-31页 |
| 3.4 与纳米功能材料结合的自卷曲微米管制备 | 第31-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 参考文献 | 第35-36页 |
| 第四章 与纳米功能材料结合的自卷曲微米管的特性表征 | 第36-55页 |
| 4.1 用于表征微米管结构和光学特性实验设备 | 第36-39页 |
| 4.1.1 光学显微镜 | 第36页 |
| 4.1.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第36-37页 |
| 4.1.3 X射线衍射测试仪(XRD) | 第37页 |
| 4.1.4 原子力显微镜(AFM) | 第37-38页 |
| 4.1.5 荧光光谱仪 | 第38-39页 |
| 4.2 自卷曲微米管结构特性表征 | 第39-45页 |
| 4.2.1 InGaAs/GaAs应变双层结构的自卷曲微米管结构特性 | 第39-41页 |
| 4.2.2 与纳米功能材料结合的自卷曲微米管结构特性 | 第41-45页 |
| 4.3 自卷曲微米管光学特性表征 | 第45-53页 |
| 4.3.1 InGaAs/GaAs应变双层结构自卷曲微米管光学特性 | 第45-47页 |
| 4.3.2 与纳米功能材料结合的自卷曲微米管光学特性 | 第47-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-55页 |
| 第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 总结 | 第55页 |
| 5.2 展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第59页 |
