新型阻变存储器测试激励信号分析与产生
| 中文摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 阻变存储器概述 | 第15-23页 |
| 2.1 存储器简介 | 第15-16页 |
| 2.2 传统存储器 | 第16-17页 |
| 2.3 新型存储器 | 第17-19页 |
| 2.4 阻变存储器机理 | 第19-20页 |
| 2.5 阻变存储器结构 | 第20-23页 |
| 第三章 阻变存储器测试 | 第23-35页 |
| 3.1 半导体测试 | 第23-24页 |
| 3.1.1 半导体I-V测试概述 | 第23页 |
| 3.1.2 快速脉冲I-V测量 | 第23-24页 |
| 3.2 RRAM基本操作与参数指标 | 第24-29页 |
| 3.2.1 RRAM基本操作 | 第24-27页 |
| 3.2.2 RRAM参数指标 | 第27-29页 |
| 3.2.3 RRAM阵列测试 | 第29页 |
| 3.3 RRAM测试激励信号模式 | 第29-35页 |
| 3.3.1 五段式脉冲模式 | 第30页 |
| 3.3.2 九段式脉冲模式 | 第30-31页 |
| 3.3.3 斜坡双扫模式 | 第31-32页 |
| 3.3.4 斜坡单扫模式 | 第32页 |
| 3.3.5 阶梯单扫模式 | 第32-33页 |
| 3.3.6 脉冲扫描模式 | 第33-34页 |
| 3.3.7 直流模式 | 第34-35页 |
| 第四章 阻变存储器激励信号生成 | 第35-59页 |
| 4.1 激励信号产生方法 | 第35-42页 |
| 4.1.1 信号波形分析 | 第35-36页 |
| 4.1.2 直接数字合成方法 | 第36-38页 |
| 4.1.3 定值步进累加法 | 第38-40页 |
| 4.1.4 波形FPGA程序实现方法 | 第40-42页 |
| 4.2 RRAM激励信号产生系统设计 | 第42-46页 |
| 4.2.1 RRAM测试系统整体架构 | 第42-43页 |
| 4.2.2 FPGA开发平台 | 第43-44页 |
| 4.2.3 数/模转换部分 | 第44-45页 |
| 4.2.4 测试操作平台 | 第45-46页 |
| 4.3 上位机调试软件设计 | 第46-49页 |
| 4.3.1 总体架构 | 第46-47页 |
| 4.3.2 软件实现 | 第47-49页 |
| 4.4 FPGA设计与仿真 | 第49-55页 |
| 4.4.1 时钟模块 | 第49-50页 |
| 4.4.2 数据处理模块 | 第50-51页 |
| 4.4.3 波形发生模块 | 第51-55页 |
| 4.5 通信部分 | 第55-59页 |
| 4.5.1 通信接口设计 | 第55-56页 |
| 4.5.2 通信协议与数据格式 | 第56-59页 |
| 第五章 激励信号测量与分析 | 第59-65页 |
| 5.1 不同模式激励信号测量 | 第59-63页 |
| 5.2 激励信号性能与误差分析 | 第63-65页 |
| 第六章 结论与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 课题总结 | 第65-66页 |
| 6.2 不足与展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第71页 |
