基于逆高斯过程的退化数据分析与试验设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 论文的发展背景及研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2 本文的主要研究内容及结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 理论基础 | 第17-27页 |
| 2.1 产品可靠性 | 第17-18页 |
| 2.2 加速退化试验 | 第18-19页 |
| 2.3 退化试验设计 | 第19-21页 |
| 2.4 逆高斯分布 | 第21-24页 |
| 2.4.1 逆高斯分布的定义 | 第21-22页 |
| 2.4.2 逆高斯分布的基本性质 | 第22-23页 |
| 2.4.3 逆高斯分布随机数的产生 | 第23-24页 |
| 2.5 逆高斯过程 | 第24-27页 |
| 2.5.1 逆高斯过程的定义 | 第24-25页 |
| 2.5.2 逆高斯过程的性质 | 第25-26页 |
| 2.5.3 逆高斯过程的失效分布 | 第26-27页 |
| 第三章 基于平稳IG过程的SSADT设计 | 第27-40页 |
| 3.1 SSADT设计及其假设 | 第27-28页 |
| 3.2 SSADT退化路径及似然函数 | 第28-30页 |
| 3.3 最优试验设计 | 第30-33页 |
| 3.3.1 AVar(ξ_p)的计算 | 第30-31页 |
| 3.3.2 试验费用 | 第31-32页 |
| 3.3.3 最优化模型及算法 | 第32-33页 |
| 3.4 案例分析 | 第33-40页 |
| 3.4.1 简单SSADT最优试验设计 | 第36页 |
| 3.4.2 三个应力水平的SSADT最优试验设计 | 第36-37页 |
| 3.4.3 灵敏度分析 | 第37-38页 |
| 3.4.4 应力水平的选择对最优设计的影响 | 第38页 |
| 3.4.5 SSADT方案的稳定性 | 第38-40页 |
| 第四章 基于非平稳IG过程的SSADT设计 | 第40-53页 |
| 4.1 SSADT设计及其假设 | 第40-41页 |
| 4.2 SSADT退化路径及其似然函数 | 第41-43页 |
| 4.3 最优试验设计 | 第43-46页 |
| 4.3.1 AVar(ξ_p)的计算 | 第44页 |
| 4.3.2 试验费用 | 第44-45页 |
| 4.3.3 最优化模型及算法 | 第45-46页 |
| 4.4 案例分析 | 第46-53页 |
| 4.4.1 简单SSADT最优试验设计 | 第48-49页 |
| 4.4.2 三个应力水平的SSADT最优试验设计 | 第49-50页 |
| 4.4.3 灵敏度分析 | 第50-51页 |
| 4.4.4 应力水平的选择对最优设计的影响 | 第51-52页 |
| 4.4.5 SSADT方案的稳定性 | 第52-53页 |
| 第五章 含随机效应的IG过程的SSADT设计 | 第53-65页 |
| 5.1 随机波动率模型 | 第53-54页 |
| 5.2 SSADT设计及其假设 | 第54-56页 |
| 5.3 SSADT退化路径及其似然函数 | 第56-58页 |
| 5.4 最优试验设计 | 第58-60页 |
| 5.5 案例分析 | 第60-65页 |
| 5.5.1 简单SSADT最优试验设计 | 第62-63页 |
| 5.5.2 灵敏度分析 | 第63页 |
| 5.5.3 应力水平的选择对最优设计的影响 | 第63-65页 |
| 第六章 总结 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附录 | 第69-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
