摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第17-22页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第17-18页 |
1.2 余数系统与纠错算法研究现状 | 第18-19页 |
1.3 本文主要研究内容与创新 | 第19-20页 |
1.4 本论文结构安排 | 第20-22页 |
第二章 基于RRNS及差错控制编码理论基础 | 第22-32页 |
2.1 余数系统(RNS) | 第22-24页 |
2.1.1 余数系统的基本运算 | 第22-24页 |
2.2 余数系统与二进制系统的转换 | 第24-26页 |
2.2.1 中国剩余定理 | 第24-25页 |
2.2.2 混合基转换 | 第25-26页 |
2.3 冗余余数系统(RRNS) | 第26页 |
2.4 RRNS差错控制编码理论基础 | 第26-29页 |
2.4.1 RRNS码 | 第27页 |
2.4.2 RRNS编码与译码设计 | 第27-28页 |
2.4.3 RRNS码最小距离理论 | 第28-29页 |
2.5 RRNS同余运算性质 | 第29-31页 |
2.6 本章小结 | 第31-32页 |
第三章 基于RRNS双错误纠错算法研究 | 第32-64页 |
3.1 基于纠正子与错误映射关系理论及证明 | 第32-41页 |
3.2 基于近似基扩展及近似纠正子理论说明 | 第41-42页 |
3.3 基于修正纠正子算法理论 | 第42-56页 |
3.3.1 基于修正方法的条件证明及余数基选择 | 第46-49页 |
3.3.1.1 修正方法差错映射完备性条件证明 | 第46-48页 |
3.3.1.2 冗余模数选择条件以及实例验证 | 第48-49页 |
3.3.2 基于修正纠正子纠错算法实现步骤和流程图 | 第49-50页 |
3.3.3 基于修正纠正子纠错算法实现结构 | 第50-55页 |
3.3.3.1 近似基扩展与近似纠正子结构实现 | 第50-51页 |
3.3.3.2 修正纠正子运算结构实现 | 第51-52页 |
3.3.3.3 映射算法结构实现 | 第52-54页 |
3.3.3.4 纠错后恢复余数向量结构实现 | 第54-55页 |
3.3.4 修正纠错算法整体结构实现 | 第55-56页 |
3.4 基于近似纠正子纠错算法理论 | 第56-59页 |
3.4.1 基于近似纠正子映射表结构实现 | 第57-58页 |
3.4.2 近似纠错算法整体结构实现 | 第58-59页 |
3.5 冗余余数纠错算法实现 | 第59-63页 |
3.6 本章小结 | 第63-64页 |
第四章 本文纠错算法评估及分析说明 | 第64-77页 |
4.1 算法仿真与综合 | 第64-74页 |
4.1.1 算法仿真说明 | 第64-67页 |
4.1.2 基于FPGA验证 | 第67-69页 |
4.1.3 DC逻辑综合说明 | 第69-72页 |
4.1.4 冗余部分仿真与综合实现 | 第72-73页 |
4.1.5 形式验证(Formality)说明 | 第73-74页 |
4.1.6 后端物理设计说明 | 第74页 |
4.2 基本运算单元的介绍与实现 | 第74-76页 |
4.2.1 单操作数模乘法器说明 | 第74-75页 |
4.2.2 模加法器说明 | 第75页 |
4.2.3 模加法器与模减法器说明 | 第75-76页 |
4.3 本章小结 | 第76-77页 |
第五章 各纠错算法性能对比分析 | 第77-94页 |
5.1 算法性能评估体系 | 第77页 |
5.2 基于一致性方程检测的纠错算法说明 | 第77-82页 |
5.2.1 算法理论说明 | 第77-80页 |
5.2.2 算法实现说明 | 第80-82页 |
5.3 基于CRT的迭代改进纠错算法 | 第82-87页 |
5.3.1 算法理论说明 | 第82-85页 |
5.3.2 算法实现说明 | 第85-87页 |
5.4 各算法综合结果分析 | 第87-90页 |
5.5 扩展有效动态范围性能评估 | 第90-93页 |
5.6 本章小结 | 第93-94页 |
第六章 总结与展望 | 第94-96页 |
致谢 | 第96-97页 |
参考文献 | 第97-101页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第101页 |