摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题研究背景 | 第9页 |
1.2 数控技术 | 第9-13页 |
1.2.1 数控技术概述 | 第9-10页 |
1.2.2 国内外数控教学设备的研制现状 | 第10-12页 |
1.2.3 数控机床故障诊断技术 | 第12-13页 |
1.3 课题研究目的及内容 | 第13-16页 |
1.3.0 课题研究目的 | 第13-14页 |
1.3.1 课题研究来源 | 第14页 |
1.3.2 课题研究的可行性分析 | 第14页 |
1.3.3 课题研究内容及结构 | 第14-16页 |
2 数控综合实验系统总体设计 | 第16-27页 |
2.1 数控综合实验系统故障诊断方法 | 第16-19页 |
2.1.1 基于案例推理的工作原理 | 第16-17页 |
2.1.2 基于案例推理机床故障诊断系统的建立 | 第17-19页 |
2.2 数控综合实验系统总体设计 | 第19-20页 |
2.3 数控机床本体选型及结构组成 | 第20-23页 |
2.3.1 数控机床本体选型 | 第20-21页 |
2.3.2 数控机床的控制原理及结构组成 | 第21-23页 |
2.4 数控综合实验平台设计 | 第23-26页 |
2.4.1 实验台设计内容 | 第23-26页 |
2.4.2 实验平台的整体布局 | 第26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
3 数控实验平台设计 | 第27-53页 |
3.1 数控实验平台模块化设计 | 第27-30页 |
3.2 数控综合实验平台控制系统 | 第30-35页 |
3.2.1 控制系统的选型及硬件配置 | 第30-32页 |
3.2.2 FANUC-0i Mate MD数控系统简介 | 第32-33页 |
3.2.3 数控综合实验平台数控系统硬件设计 | 第33-35页 |
3.3 交流伺服系统单元模块化设计 | 第35-36页 |
3.3.1 伺服系统选型 | 第35页 |
3.3.2 实验平台进给交流伺服系统设计 | 第35-36页 |
3.4 机床I/O模块单元设计 | 第36-45页 |
3.5 故障设置诊断的模块化设计 | 第45-48页 |
3.6 实验台强电电路设计 | 第48-52页 |
3.7 本章小结 | 第52-53页 |
4 数控机床故障诊断与梯形图编程 | 第53-72页 |
4.1 数控机床故障信息采集 | 第53-57页 |
4.1.1 机床可观察故障的信息采集 | 第53-54页 |
4.1.2 机床可观察故障现象人工采集设计 | 第54页 |
4.1.3 机床故障案例的表示 | 第54-56页 |
4.1.4 机床故障案例的决策表 | 第56-57页 |
4.2 基于粗糙集理论优化 | 第57-62页 |
4.2.1 粗糙集理论定义 | 第57-59页 |
4.2.2 故障属性约简方法 | 第59-61页 |
4.2.3 故障属性特征权值提取 | 第61-62页 |
4.3 数控综合实验系统的故障诊断流程 | 第62-64页 |
4.4 PMC程序编写 | 第64-71页 |
4.4.1 PMC程序编写流程 | 第64-66页 |
4.4.2 梯形图编程 | 第66-71页 |
4.5 本章小结 | 第71-72页 |
5 参数设置及系统调试 | 第72-79页 |
5.1 数控系统参数设置 | 第72-76页 |
5.1.1 参数设定步骤 | 第72-73页 |
5.1.2 基本参数设定 | 第73-76页 |
5.2 系统调试 | 第76-78页 |
5.3 本章小结 | 第78-79页 |
6 数控教学实验项目研发 | 第79-90页 |
6.1 实验项目一数控综合实验系统电源控制实验 | 第80-81页 |
6.2 实验项目二FANUC-0i MD数控系统各接口连线实验 | 第81-83页 |
6.3 实验项目三数控综合实验系统故障设置与诊断实验 | 第83-84页 |
6.4 实验项目四数控实验系统PMC程序编写及连接实验 | 第84-88页 |
6.5 实验项目五PMC程序设计 | 第88-89页 |
6.6 本章小结 | 第89-90页 |
总结与展望 | 第90-92页 |
总结 | 第90-91页 |
展望 | 第91-92页 |
致谢 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-97页 |
附录Ⅰ | 第97-99页 |
攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第99页 |
发表论文 | 第99页 |
参与的科研项目 | 第99页 |