| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第12-16页 |
| 1.1.1 超声无损检测技术对现代工业产生巨大的影响 | 第12-13页 |
| 1.1.2 超声成像是定量超声无损检测技术的重要基础 | 第13-14页 |
| 1.1.3 超声成像系统的高性能化有赖于虚拟仪器架构 | 第14-16页 |
| 1.2 超声无损检测相关技术研究现状及其发展趋势 | 第16-23页 |
| 1.2.1 检测机理已趋明晰,技术优势突出明显 | 第16-18页 |
| 1.2.2 无损评价有序推进,成像需求日趋强烈 | 第18-20页 |
| 1.2.3 成像方法逐步丰富,应用范围日渐广泛 | 第20-22页 |
| 1.2.4 成像系统不断涌现,成像性能有待提高 | 第22-23页 |
| 1.3 本文研究内容和章节安排 | 第23-26页 |
| 第二章 超声成像理论基础及高性能超声成像系统总体方案 | 第26-38页 |
| 2.1 引言 | 第26页 |
| 2.2 超声成像理论基础 | 第26-33页 |
| 2.2.1 声波传播机理 | 第26-28页 |
| 2.2.2 声场基础理论 | 第28-32页 |
| 2.2.3 超声C扫成像原理 | 第32-33页 |
| 2.3 基于PXI总线的超声成像系统总体方案 | 第33-37页 |
| 2.3.1 功能目标 | 第33-35页 |
| 2.3.2 总体方案 | 第35-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 多轴机械C扫查的运动跟踪与控制 | 第38-52页 |
| 3.1 引言 | 第38页 |
| 3.2 扫查装置机械本体的设计 | 第38-41页 |
| 3.3 基于PXI总线的多轴运动控制卡 | 第41-45页 |
| 3.3.1 技术方案 | 第41-43页 |
| 3.3.2 控制实施 | 第43-45页 |
| 3.4 超声机械C扫查的路径规划 | 第45-50页 |
| 3.4.1 机械C扫查的路径规划 | 第45-49页 |
| 3.4.2 扫查的步距与精度分析 | 第49-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 超声C扫成像及其处理技术 | 第52-65页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 超声C扫成像技术 | 第52-58页 |
| 4.2.1 超声回波信号预处理 | 第53-54页 |
| 4.2.2 C扫图像的二维表征 | 第54-58页 |
| 4.3 超声C扫成像处理技术 | 第58-64页 |
| 4.3.1 图像分辨率的改善技术 | 第58-62页 |
| 4.3.2 图像边缘的提取技术 | 第62-64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 基于虚拟仪器架构的高性能超声成像系统 | 第65-80页 |
| 5.1 系统研发 | 第65-77页 |
| 5.1.1 硬件部分设计 | 第65-69页 |
| 5.1.2 软件模块开发 | 第69-77页 |
| 5.1.3 系统集成 | 第77页 |
| 5.2 实验研究 | 第77-79页 |
| 5.3 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 结论 | 第80-81页 |
| 6.2 展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
