模拟电路变结构差分演化及其可扩展性问题研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 表格 | 第11-12页 |
| 插图 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·电路变结构演化概述 | 第14-15页 |
| ·演化设计可扩展性问题概述 | 第15-18页 |
| ·本文所做工作 | 第18-21页 |
| 第二章 差分演化算法概述 | 第21-27页 |
| ·引言 | 第21-22页 |
| ·标准差分演化算法 | 第22-23页 |
| ·电路演化中的差分演化算法 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 模拟电路变结构差分演化 | 第27-39页 |
| ·引言 | 第27-28页 |
| ·变结构差分演化算法VSDE | 第28-30页 |
| ·分组交叉 | 第28-29页 |
| ·随机长度处理 | 第29-30页 |
| ·电路变结构差分演化准备工作 | 第30-33页 |
| ·电路编码 | 第30-31页 |
| ·适应度评估 | 第31页 |
| ·VSDE演化电路流程 | 第31-33页 |
| ·实验结果和分析 | 第33-38页 |
| ·低通滤波器实验 | 第34-35页 |
| ·高通滤波器实验 | 第35-36页 |
| ·反向放大器实验 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 模拟电路变结构差分演化的可扩展性分析 | 第39-53页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·模拟电路变结构演化复杂性分析 | 第40-41页 |
| ·采用线性编码时演化的复杂性 | 第40页 |
| ·采用环节编码时演化的复杂性 | 第40-41页 |
| ·关于变结构差分演化的分析 | 第41-47页 |
| ·变长演化分析 | 第42-44页 |
| ·分组交叉操作分析 | 第44-47页 |
| ·实验结果和分析 | 第47-51页 |
| ·搜索空间增大实验 | 第47-50页 |
| ·电路规模增大实验 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 模拟电路变结构差分演化的算子自适应研究 | 第53-65页 |
| ·引言 | 第53-54页 |
| ·自适应差分演化算法回顾 | 第54-55页 |
| ·VSDE算子自适应改进 | 第55-58页 |
| ·交叉算子自适应策略 | 第56-57页 |
| ·变异算子自适应策略 | 第57-58页 |
| ·实验结果和分析 | 第58-62页 |
| ·交叉算子自适应 | 第58-59页 |
| ·变异算子自适应 | 第59-60页 |
| ·自适应VSDE实验 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·工作总结 | 第65-66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 在读期间发表的学术论文与参与的科研项目 | 第75页 |
